实验设计第八讲可靠性设计

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分类专栏：实验设计文章标签：经验分享

于 2022-11-13 10:05:21 首次发布

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一、基本了解

（一）可靠性（reliability）

产品在规定的条件下和规定的时间内完成规定的功能的能力称为产品的可靠性。

（二）元器件的选用

系统的可靠性受多方面因素的影响，但最关键的还是元器件的可靠性。以下有几个概念需要理解。

1、筛选是对大批量生产出的元器件在使用前进行的严格的挑选，挑选出符号要求的元器件。

2、参数飘移是在筛选合格的元器件时，元器件参数、性能不稳定的现象。

3、老炼是使参数性能稳定的过程。元器件是否要进行老炼，主要取决于这种元器件的参数飘移是否影响产品使用的可靠性，如果没有影响，就可以不进行老炼。

（三）元器件如何正确使用

1、降额使用是使元器件在低于其额定值的条件下工作，为了提高元器件的寿命和可靠性，我们时常要对其关键性指标降额使用。降额要有合适的量，降额会影响设备的体积或成本，降额不是越多越好。此外还要考虑降额的效果，无必要不降额。

2、减少元器件的数目，简化系统的结构，也能提高系统的可靠性。

（四）可靠度

产品在规定的条件下和规定的时间内完成规定的功能的概率叫做产品的可靠度。可靠度 $R(t)$ 是时间的函数，其数学表达式为： $R(t)=P(T>t)$ ， $T$ （寿命）是产品发生故障或失效的时间， $t$ 是规定的时间。可靠度有三种分类如下：

1、工作可靠度 $R_{o}$ ：实际使用时的可靠度。

2、固有可靠度 $R_{i}$ ：产品内在的可靠度。主要是由系统（硬件、软件等）决定的。我们所说的可靠度设计就是为实现固有可靠度的目标值而进行的设计。

3、使用可靠度 $R_{u}$ ：与产品的外在的使用环境有关，比如包装、运输、人为因素等。设计者是无法掌控这些因素的。

4、三者之间的关系： $R_{o}\approx R_{i}R_{u}$

（五）累积故障分布函数

产品在规定的条件下和规定的时间内不能完成规定功能的概率，其数学表达式为： $F(t)=P(T\leqslant t)$ ，显然， $R(t)+F(t)=1$ 。

常用的故障分布函数是指数分布， $f(t)=\lambda e^{-\lambda t},t> 0,R(t)=e^{-\lambda t},\lambda (t)=\lambda,MTIF=\frac{1}{\lambda }$

（六）故障率函数

工作到某时刻尚未发生故障（失效）的产品，在该时刻后单位时间发生故障（失效）的概率，也称为该产品的瞬时故障（失效）率，或者是风险函数，其数学表达式如下：

$\lambda (t)=\frac{f(t)}{R(t)}=\frac{F(t)^{'}}{1-F(t)}$

如下是故障率计算示例：

计算方法：（1）、（2）栏是记录而得。（3）栏是（2）栏的向下累积，（4）=总零件个数-（3），（5）=（2）/总零件个数，（6）=（4）/总零件个数，（7）是由（4）栏中相邻的两数的平均值（作为分母）去除与后一数同行的（2）栏取值（作为分子）得来的。

（七）平均寿命（MTTF/MTBF）

产品从投入使用到发生故障前正常运行时间的平均值。对于不可修复产品或长寿命产品，也称为平均失效前时间（mean time to failure），对于可修复产品，也称为平均故障间隔时间（mean time between failure）。数学表达式如下：

$MTBF=E(t)=\int_{0}^{}R(t)tdt$

有效度，是在任何时刻正常工作的概率。对于可修复系统，有效度大于可靠度。

（八）浴盆曲线

根据产品故障率在不同使用时期具有的不同特点，划分为三个时期。所有产品和系统都会经历这样三段时期。

1、早期故障期。故障原因主要是制造工艺缺陷、设计错误等，这种故障不仅发生在使用初期，可能在维修后再使用时也会出现，应该早发现，早解决。

2、偶然故障期。故障的发生是随机的，故障率近似为常数，产品的状态比较稳定，这是产品工作的最好时期。

3、耗损故障期。故障原因主要是产品材料的老化、疲劳磨损等，这时期已接近产品寿命的完结。

系统：是由若干个单元有机构成的可完成一定功能的综合体。

二、系统

常见的系统模型是串联和并联模型，以及它们的组合。

（一）串联系统

每个单元都正常工作时系统才能正常工作，任一单元出现故障就导致整个系统出现故障。串联系统的可靠度为： $R(t)=\prod_{i=1}^{n}R_{i}(t)$ ，系统示意图如下：

串联系统的可靠度随着元件个数的增加而下降。提高一个串联系统的可靠度是非常困难的。要提高串联系统的可靠度，可以从两个方面考虑：①减少串联元件个数；②提高各元件的可靠度。

（二）并联系统

只要有一个单元能正常工作整个系统就能正常工作，只要有一个单元不发生故障系统就不会发生故障。并联系统的可靠度为： $R(t)=1-\prod_{i=1}^{n}(1-R_{i}(t))$ 。

计算可靠度的近似方法：假设各元件的故障概率为 $\lambda _{i}$ ，则系统可靠度为 $R\approx 1-\sum_{i=1}^{n}\lambda _{i}$ 。

提高一个并联系统的可靠度是很容易的。随着元件个数的增加，并联系统的故障概率降低，系统的可靠度提高。并联方式可作为提高系统可靠度的一种手段，叫做冗余性。

（三）串-并联方式

1、先并联再串联

每一个组合都是元件的冗余结构，称为低级冗余，系统整体的可靠度为： $R=[1-(1-r)^{m})]^{n}$

2、先串联后并联

称为高级冗余系统，系统整体的可靠度为： $R=1-(1-r^{n})^{m}$

3、低级冗余和高级冗余的对比：

①“低级”和“高级”不是价值的判断，不代表优劣，而是对并联方式的区别。“低级”指并联由基本元件构成，“高级”指并联由复杂组合构成。

②在所有情况下，低级冗余比高级冗余都有较高的可靠度。因此可以认为，提供备用元件比提供备用组合有更好的整体可靠性。

（四）系统可靠性的分配

把对系统可靠性总的定量要求分配到各单元，使系统和单元的可靠性定量要求协调一致。系统可靠性分配有两种方法。总的来说，在串联方式下，应该有： $R_{1}(t)R_{2}(t)...R_{n}(t)\geqslant R(t)$ ，如果串联元件都服从指数分布，则有： $\lambda _{1}+\lambda _{2}+...+\lambda _{n}\leqslant \lambda$ 。