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RSS订阅原创 为什么 Edge Compare 能过，Window Compare 却 fail？顺便把 93K 和 750HD 一次讲透
文章摘要：本文对比了93K和750HD测试平台中EdgeCompare（点测）和WindowCompare（段测）的核心差异。93K采用动作语言建模，支持点段组合测试；750HD通过时序配置表实现，更侧重量产效率。关键区别在于：Edge检查单点状态，Window验证持续稳定性。工程中常见误判源于未明确测试目标（验证点or区间），Window通常更严格但非万能。调试需注意窗口开闭时机，避免过渡区误判。平台选择取决于测试复杂度（93K适合复杂场景）或量产需求（750HD效率优先）。核心结论：测试失败多源于需求定
2026-04-10 12:03:55
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原创 泰瑞达J750Ex-HD测试平台全解析
泰瑞达J750Ex-HD测试平台是一款高性能数字测试系统，其核心HSD800板卡提供128个数字通道，支持高达800Mbps数据传输速率和5ps边缘时序分辨率。该平台配备多种专用功能模块，包括内存测试选配件(MTO)、数字信号发射接收(DSSC)、深度扫描历史RAM(DSHRAM)等，支持复杂数字IC和混合信号器件的测试需求。
2025-02-04 19:54:29
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原创 泰瑞达J750Ex-HD-简单介绍
在当今高科技领域，电子产品的市场需求不断增长。为了满足用户对高质量、高性能产品的要求，众多制造商都在不懈努力，希望将最优质的产品交付给消费者。而ATE（自动测试设备）测试机台在电子产品生产过程中起着至关重要的作用。本书《ATE测试机台-入门到精通-泰瑞达J750HD》旨在为读者提供深入了解ATE测试机台的知识，并掌握泰瑞达J750HD测试机台的使用技巧和操作要点。无论是从零开始学习还是希望进一步提高自己的测试技能，本书都将为您提供全面的指导和实践经验。
2025-01-15 12:01:32
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空空如也
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