泰瑞达J750Ex-HD测试平台-板卡(Hardware Specifications )

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已于 2025-02-04 20:03:59 修改

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文章标签：集成测试测试工具学习方法

于 2025-02-04 19:54:29 首次发布

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系列文章目录

泰瑞达J750Ex-HD测试平台-板卡

高速数字 800 板卡 (HSD800)，提供数字功能和特性分析测试
内存测试选配件 (MTO)，用于嵌入式内存测试
数字信号发射和接收 (DSSC)，安装在每个引脚后，用于存储和混合信号
深度扫描历史 RAM (DSHRAM)，适用基于 DFT 的 SCAN 测试
高电压数字 (HVD) 功能，用于嵌入式快闪存储器测试
高密度芯片电源板卡 (HDDPS)，用于提供高性能精密控制的芯片电源
高密度 VI源板卡 (HDVIS)，用于高工位数测试，以及利用测试向量进行测量时间点的精确控制
混合信号选配件 (MSO)，用于嵌入式模拟元器件的音频测试
高密度转换器测试选配件 (HDCTO)，用于测试嵌入式 ADC/DAC 转换器
高密度模拟引脚测量单元 (HDAPMU)，用于混合信号测试
LitePoint RF 测试系统

前言

在当今数字化时代，电子产品的快速发展和不断更新换代，需要高效可靠的测试平台来确保产品质量和性能。而泰瑞达J750Ex-HD测试平台-板卡则成为了这个领域的佼佼者。

该测试平台提供了丰富的数字功能和特性分析测试，其中包括高速数字板卡(HSD800)，内存测试选配件(MTO)，数字信号发射和接收(DSSC)，深度扫描历史RAM(DSHRAM)等，以满足不同测试需求。

在嵌入式内存测试方面，MTO选配件为用户提供了便捷的解决方案，而DSSC则能够在每个引脚后实现存储和混合信号。此外，DSHRAM适用于基于DFT的SCAN测试，为测试过程提供了更多便利。

当涉及到嵌入式快闪存储器测试时，高电压数字(HVD)功能成为了不可或缺的一部分。而高密度芯片电源板卡(HDDPS)和高密度VI源板卡(HDVIS)则能够提供高性能精密控制的芯片电源和测量时间点的精确控制。

此外，混合信号选配件(MSO)能够进行嵌入式模拟元器件的音频测试，而高密度转换器测试选配件(HDCTO)则可以用于测试嵌入式ADC/DAC转换器。同时，高密度模拟引脚测量单元(HDAPMU)可用于混合信号测试。

最后，LitePoint RF测试系统则提供了完善的射频测试解决方案。

综上所述，泰瑞达J750Ex-HD测试平台-板卡凭借其丰富的功能和特性，成为了现代电子产品测试的不可或缺的工具，为产品质量和性能的保证提供了可靠的支持。

一、高速数字 800 板卡 (HSD800)

基本特征
使用HSD800，你可以有：
在16数字通道卡测试系统中多达2048个通道
•多达1024个通道在一个8数字通道卡测试系统
•在IG-XL中原生支持多达512个站点
每一块HSD800数字通道板具有以下特性。
•128个通道
•高达400 MHz时钟
多路模式，使用A驱动和接收数据，最高可达800 Mbps
多路复用的相邻通道对。
•四路双驱动器（QDD）模式，可在单台设备上驱动高达800Mbps的数据
频道仅使用非返回格式
四路多路双驱动器（QMDD）模式，使用高达800 Mbps的数据驱动
一对相邻QDD通道的多路复用，只采用非返回格式
四路多路接收（QMR）模式，可捕获高达800 Mbps的数据
一对多路复用的相邻信道。
•5 ps边缘时序分辨率
•三个每针驱动级别：低，高，和vterm
•驱动级别：-1.5 V至+6.5 V，具有1 mV分辨率
•12个高压驱动引脚(0,4,8,32,36,40,64,68,72,96,100和104)
0v ~ + 18v DC， 12路100ma
兼容HSD100数字通道板的高压引脚
32个快速转换率高电压驱动
6v ~ + 13v， 32路，每路12Ma
全部32个可以同时使用
•比较器阈值范围：-1.5 V到+6.5 V <1 mV分辨率
•比较器最小脉冲宽度：800 ps
•可重载子程序向量存储器（SVM）： 8K
•大向量内存（LVM）：最大许可128米
•额外的每引脚资源：PPMU，有源负载电路，动态电压夹子，频率计数器
•2±24v， 200ma四象限力和测量Bpmu
•16实用位驱动DIB继电器
•差分接收
•50欧姆传输线到设备引脚
千兆以太网模式加载和捕获的数据读取
•DIB访问允许另一个仪器通过数字连接到设备引脚渠道
每128通道8个DIB接入针（每32通道2个）
BPMU的Fanout可以提供两个额外的力/感对
•AutoStrobe用于单模式设备边缘搜索
•驱动边缘的每个引脚定时偏移
•可选的DSIO源/捕获引擎（每组64通道6个）
•可选扫描功能，高达3G扫描链深度
•可选16M x 96位深度扫描HRAM （DSHRAM）用于捕获扫描矢量数据
可选MTO，带有算法地址和数据生成，用于嵌入式测试记忆

测试头槽分配和通道数映射
下图显示了数字通道板和支持的CalCUB、转换器测试选项（CTO）、HDCTO和电源板（DPS、HVDPS、HDDPS和HDVIS）的测试头插槽分配和通道编号映射。

关于HSD800 DSIO
数字信号I/O （DSIO）是J750测试系统上的HSD800数字通道卡的一个选项。DSIO、MTO和DSHRAM选项位于一个附加板上，称为DSMTO，安装在现有的HSD800通道卡上。每个HSD800数字板只能安装两块DSMTO rider板。

DSIO选项：

用于转换器测试的高速数字波形表示
源为设备寄存器写动态生成的数字数据
允许源数据独立于数字模式
捕获和存储高速数字波形表示为转换器测试
从设备寄存器读取数字数据并将其存储到内存中
允许捕获数据独立于数字模式进行处理

基本特征

每个HSD800 DSIO选项板包含6个16位DSIO引擎：
每个引擎具有256Mbit源捕获内存。
每个引擎可以配置为源或捕获。
每个引擎可配置为串行或并行。
多个并行引擎可以组合在一起，以形成更广泛的源或捕获
仪器（最高32位）。
在同一个HSD通道板上，可以同时使用并行和串行仪器。
捕获和源仪器可以共存于同一HSD通道板上。
DSIO仪器使用模式微码控制：
100个mvp微码。
所有定时模式下的源和捕获：扩展、正常和四轴
四元模式下的源和捕获支持Mux模式、QDD模式和QMDD
模式，但不是QMR模式
四模源和捕获模式可与差分引脚一起使用
4路源模式，仅使用平行仪器
捕获在四模式可以使用并行或串行仪器
在HSD200或HSD800工作模式下，源为四路模式
仅在HSD800工作模式下捕获四路模式
扩展模式下的ADB支持：每16通道切片共28行ADB
224行ADB线对遗留测试程序的ADB兼容性模式支持

二、内存测试选配件 (MTO)，用于嵌入式内存测试

内存测试选项（MTO）是一种测试嵌入式或独立内存（如系统芯片（SOC）设备）的工具。为了测试这些设备上的内存，MTO算法生成并发送地址和数据给数字驱动器，并将预期数据发送给数字接收器。MTO生成的地址，以及接收端检测到的设备故障，都可以被捕获到源捕获内存中并压缩到故障映射内存中，或者直接捕获到故障映射内存中，以支持位图和冗余分析文件的创建。
MTO有三种版本：HSD100 （J750测试系统）和HSD200、HSD800 （J750Ex测试系统）。所有仪器都使用通用编程模型，但J750Ex版本包括功能增强。在HSD100和HSD200版本中，MTO是一个可选的附加卡，插入数字板。在HSD800上，使用了两个附加卡，每个附加卡为数字板上的一组64个数字通道提供MTO能力。

基本特征
MTO包括以下特性：
MTO生成器由一组模式控制下的指令微码控制。

HSD板上每个64通道组有一个MTO发生器。