ATE测试机台-泰瑞达J750Ex-HD-相关入门

系列文章目录

提示：我会在这个系列和大家一起分享相关的知识点和学习方法以及个人的观点
个人学习-电子相关（集成电路、电子元器件、测试方法）

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提示：写完文章后，目录可以自动生成，如何生成可参考右边的帮助文档

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前言

在当今高科技领域，电子产品的市场需求不断增长。为了满足用户对高质量、高性能产品的要求，众多制造商都在不懈努力，希望将最优质的产品交付给消费者。而ATE（自动测试设备）测试机台在电子产品生产过程中起着至关重要的作用。

本书《ATE测试机台-入门到精通-泰瑞达J750HD》旨在为读者提供深入了解ATE测试机台的知识，并掌握泰瑞达J750HD测试机台的使用技巧和操作要点。无论是从零开始学习还是希望进一步提高自己的测试技能，本书都将为您提供全面的指导和实践经验。

本书将从ATE测试机台的基本概念和原理开始介绍，帮助读者理解测试机台的工作原理和结构。随后，我们将详细介绍泰瑞达J750HD测试机台的功能和特点，并通过具体案例和实例说明如何通过该设备进行各种测试任务。

无论您是新手还是经验丰富的专业测试工程师，本书都将为您提供有针对性的内容。我们希望通过本书，读者能够掌握ATE测试机台的基本原理和操作技巧，进而提高测试效率和产品质量。

最后，我们要特别感谢所有参与本书编写的专业人士和技术团队。他们的辛勤工作和专业知识为本书的完成提供了强有力的支持。同时，我们也感谢读者的支持和关注，希望本书能够为您在ATE测试机台领域的学习和实践提供帮助和指导。

祝愿每一位读者能够通过《ATE测试机台-入门到精通-泰瑞达J750HD》，在ATE测试领域取得丰硕的成果！愿您在测试技术的道路上越走越远，不断探索和创新，为电子产品的发展做出更大贡献！

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提示：以下是本篇文章正文内容，下面案例可供参考

一、泰瑞达是一家什么公司？

在这里我们还是引用泰瑞达官网；
我这里很喜欢他们说的一句话：
“在改变世界的科技行业中，泰瑞达扮演着不可或缺的角色。”

泰瑞达，全称泰瑞达公司（Teradyne, Inc），是一家自动测试设备供应商，成立于1960年9月23日，总部位于美国马萨诸塞州，Gregory Stephen Smith任首席执行官。 该公司主要业务有半导体测试、系统测试、无线测试和工业自动化，旗下产品有FLEX测试平台、J750平台、Magnum平台和ETS平台。 该公司于1970年4月2日在纳斯达克上市，股票代码为TER。

Teradyne Inc.在全球范围内设计，开发，制造，销售和支持自动测试设备。该公司通过半导体测试（Semiconductor Test），系统测试（System Test），工业自动化（Industrial Automation）和无线测试部门（Wireless Test）进行运营。

Semiconductor Test：为汽车，工业，通信，消费者，智能手机，计算机和电子游戏以及其他应用中的晶圆级和器件封装测试提供产品和服务。该部门还提供FLEX测试平台系统； J750测试系统可解决半导体器件的体积； Magnum平台，用于测试存储设备，例如闪存和DRAM；面向半导体制造商以及模拟/混合信号市场中的组装和测试分包商的ETS平台。该部门为集成设备制造商提供服务，这些制造商将硅晶片的制造集成到他们的业务中；将晶圆生产外包的无晶圆厂公司；铸造厂以及半导体组装和测试提供商。
System Test：提供国防/航空测试仪器和系统； 存储测试系统； 以及电路板测试和检查系统。
Industrial Automation：为制造业，物流业和轻工业客户提供协作机器人手臂，自主移动机器人和先进的机器人控制软件。
Wireless Test：提供测试解决方案，用于LitePoint品牌的无线设备和模块，智能手机，平板电脑，笔记本电脑，笔记本电脑，外围设备和物联网设备的开发和制造。该部门还提供适用于Wi-Fi和其他标准的IQxel产品； IQxstream解决方案，用于测试GSM，EDGE，CDMA2000，TD-SCDMA，WCDMA，HSPA +，LTE-FDD，TD_LTE，LTE-A和5G技术； IQcell，一种多设备蜂窝信令测试解决方案； IQgig测试解决方案； 以及无线芯片组的交钥匙测试软件。

二、泰瑞达J750Ex-HD测试平台

提示：本文所有内容都围绕J750Ex-HD平台,进行展开学习和探讨

1.泰瑞达J750Ex-HD测试平台-外观

图片来自泰瑞达官网

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2.泰瑞达J750Ex-HD测试平台-板卡

1. 高速数字 800 板卡 (HSD800)，提供数字功能和特性分析测试
2. 内存测试选配件 (MTO)，用于嵌入式内存测试
3. 数字信号发射和接收 (DSSC)，安装在每个引脚后，用于存储和混合信号
4. 深度扫描历史 RAM (DSHRAM)，适用基于 DFT 的 SCAN 测试
5. 高电压数字 (HVD) 功能，用于嵌入式快闪存储器测试
6. 高密度芯片电源板卡 (HDDPS)，用于提供高性能精密控制的芯片电源
7. 高密度 VI源板卡 (HDVIS)，用于高工位数测试，以及利用测试向量进行测量时间点的精确控制
8. 混合信号选配件 (MSO)，用于嵌入式模拟元器件的音频测试
9. 高密度转换器测试选配件 (HDCTO)，用于测试嵌入式 ADC/DAC 转换器
10. 高密度模拟引脚测量单元 (HDAPMU)，用于混合信号测试
11. LitePoint RF 测试系统

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3.泰瑞达J750Ex-HD测试平台-IG-XL

1.更快的上市时间
与竞争对手的 ATE 软件系统相比，IG-XL 使多站点程序的开发速度提高了 30%
Visual Basic For Test：一种功能强大、易于使用和学习的编程语言
以设备为中心的编程
高效：与其他 ATE 编程语言相比，代码行数少于 50%
鼓励代码重用
无需编译 – 在 “zone” 中启用调试
本机多站点编程：从单站点到多站点零工作量
自动管理站点选择和激活
为单个站点编写 - 使用站点感知变量运行多个站点
站点感知流量控制
True CT：更快地优化并发测试
用于串行或并发执行的相同测试代码
模块化测试开发：高效协作和代码重用
集成调制/解调库
ESA 工具包将标准台式测量算法与完整的波形库相结合

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2.最佳吞吐量
IG-XL 可在产品量产的早期实现最佳吞吐量，从而更快地实现盈利
IG-XL 新手用户无需高级用户帮助即可编写高效的程序
本地多站点编程 = 从单站点到多站点的零工作量
自动管理站点选择和激活
为单个站点编写 - 使用站点感知变量运行多个站点
站点感知流量控制
Pure Parallel Software 和 System Broadcast 可实现高并行测试效率
后台 DSP 使用户能够在后台利用多线程 DSP 计算和数据移动，而无需任何特殊编码
True CT 和 CTOptimizer 无需修改任何代码即可实现高并发测试效率
Timelines 工具提供执行各个方面的图形视图，以帮助测试工程师快速识别可以优化的潜在吞吐量瓶颈

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3.减少缺陷逃逸
测试编程错误可能导致缺陷逃逸。IG-XL 的工具可帮助测试工程师在发布到生产环境之前消除编程问题
IG-Review 审核测试程序的常见编程错误和其他潜在问题
Real Time Audit Tool 在执行期间监控测试仪编程，以确保不会以可能对设备或接口硬件造成过度压力的方式违反特定于设备的规则
IG-Diff 可帮助用户比较测试程序版本并创建发布文档，以确保没有意外的更改发布到生产环境中

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4.更快获得授权良率
IG-XL 提供了必要的工具，可以有效和高效地收集提高产量所需的诊断数据
为了提高良率，测试工程师必须在不影响测试成本的情况下收集大量测试数据。通过使数据易于收集且成本低廉，IG-XL 用户可以更快地达到应有的产量
使用扫描失败处理模板，用户可以快速收集和记录 STDF 或 EDA 特定格式的扫描失败
IG-XL 开放式可扩展设计使其易于集成到任何人的设计和测试生态系统中
IG-XL 与 Teseda 的 Scan Workbench 一起，为故障分析实验室和设备启动和表征提供实时交互式扫描故障调试分析解决方案

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其实大家可以理解IG-XL(就是一个Excel的填表)

填表可以完成大多数的DC和AC测试,如果你要更深入的去测试或者是你想把一个产品测试的非常的全面那可能需要到它的编程页面使用VBT或者是C语言来编写对应你想要的测试内容.

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总结

在这一章的学习中我们知道了泰瑞达J750Ex-HD测试平台的相关硬件和软件,接下来我们会从软件层面来一步一步的学习再结合到硬件进行一个编程学习.