集成电路测试-ATE(相关入门)

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前言

大概内容：

1.什么是ATE测试机台？
2. ATE测试工程师相关岗位职责?
3. 目前的发展趋势和相关工作环境?

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提示：以下是本篇文章正文内容，下面案例可供参考

一、什么是ATE测试机台？

ATE测试平台
ATE（Automatic Test Equipment）是自动测试设备，它是一个集成电路测试系统，用来进行IC测试。
这就是泰瑞达的这J750HD测试平台

1960年代：初创期
1960年，泰瑞达（Teradyne）在Joe & Nemo热狗店上方的阁楼成立，1966年推出配备小型计算机的集成电路测试仪J259，可以说J259标志着半导体行业中自动测试设备（ATE）时代的开始。

1965年，仙童半导体（Fairchild）自动化测试部门成立，推出5000C（模拟器件测试）和Sentry 200（数字电路测试），5000C和Sentry 200都由自主开发的24位，10MHz计算机FST2进行控制。

1965年Everett Charles Technologies (ECT)成立，从事电路板测试。

1970年代：发展期
1972年，武田理研工业（Takeda Riken Industries）推出了10MHz的LSI测试系统T-320/20，进入半导体测试市场。武田理研工业（Takeda Riken Industries）创办于1954年，初期是一家电子测量仪器制造商。

1975年电子仪器测试商General Radio Company更名GenRad，在仙童半导体（Fairchild）的人员支持下推出数字测试系统R16/R18，进入半导体ATE设备市场。General Radio Company成立于1915年。

1976年，武田理研工业（Takeda Riken Industries）推出全球首个DRAM测试机台T310/31，取得了成功。

1976年，泰瑞达（Teradyne）员工Graham Miller和Roger Blethen离职创办了LTX。据传LTX公司名称的由来是由于创始人于圣诞节离开泰瑞达（Left Teradyne on X’MAS）。

1976年，通用电气（General Electric）电子测试设备的研究员和设计师Luciano Bonaria在意大利都灵创办了SPEA，用于电子和自动化系统测试。

1976年，Len Foxman创办Eagle Test Systems，开始提供测试解决方案。

1978年GenRad员工离职创办Trillium Test System。

1979年，斯伦贝谢（Schlumberger）收购Fairchild Camera and Instrument，包括仙童半导体（Fairchild）。

1979年，武田理研工业（Takeda Riken Industries）推出达100MHz的测试速度的机台T-3380（非存储设备）和T-3370（存储设备）。

1979年，设计测试软件解决方案商Test Systems Strategies Inc.（TSSI）成立，服务于矢量转换和模式验证市场；其主要贡献是Waveform Generation Language (WGL)的发明。（1994年TSSI和See Technologies合并，组建了Summit Design；1997年Summit出售TSSI给Credence；2005年TSSI再次成为独立公司）

1979 年，泰瑞达（Teradyne）开始在中国拓展业务。

1970年代末