电子设备温升测试-测试案例

已于 2022-05-14 12:18:16 修改
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分类专栏： 硬件测试 温升测试 热设计 文章标签： 经验分享 硬件工程 嵌入式硬件
于 2022-05-04 15:53:41 首次发布
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       为保证电子设备温度可靠运行，一般需要对电子设备内部的关键元器件进行温升测试，以确保关键元器件的温度不超过其允许的最高工作温度。但是不同的测试工况会得出不同的测试结果，现对比不同工况下的测试数据。

工况一：常温下测试：

       在办公室环境，无风的条件下测试。

     温度稳定后，温度值如下

温度点

环境温度

样品内部温度1

样品内部温度2

测量温度

23℃

56℃

55℃

温升
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