AFM测试常见问题及解答（一）

1 AFM接触模式，扫描范围越大，对针损坏越大吗？

答：扫描范围大的情况下考虑表面出现较高起伏颗粒会对探针造成磨损，另外扫描范围很大时，接近扫描最大范围93微米时会对扫描管造成损伤。

2 什么时候才会考虑调节 I gain/P gain/setpoint这些参数?

答：setpoint与力有关，接触模式和峰值力轻敲模式下setpoint与力成正比关系，如果探针接触不到表面出现形貌差异较大时需要增大setpoint，轻敲模式力与setpoint成抛物线关系，I gain在每次成像时都需要调节，先慢慢增大至误差通道出现噪声震荡时回调I gain值至震荡消失为最佳，调节好I gain后将P gain设置为I gain的2倍。

3 接触共振模式测粘性，振幅只与粘度有关吗？quality factor 只与粘性有关（正相关）吗？

答：是的，quality factor只与粘性正相关。

4 AFM可以像STM那样看到原子级尺度（纳米）的形貌吗？

答：可以，一般在液下测量原子相。

5 测量两相之间电势差采用KPFM模式还是PFM模式？

答：采用KPFM模式。

8 setpoin是加在压电陶瓷上的直流偏压吗？