ADC相关参数定义与测试方法

1 ADC 静态参数

1.1 Gain Error

        ADC实际传输曲线斜率偏离理想斜率的程度。即补偿失调误差之后，输出曲线最后的实际偏差。

        修正失调电压误差后，额定满量程代码与理想输入信号码值之间的差值，即Gain Error = Full-scale Error - Offset Error。

1.2 Offset Error

        ADC输入、输出曲线中第一个转换点与理想值的偏差，可以用LSB表示。 输入信号为零，ADC输出码值。即输入端对地短接，读取ADC码值。

1.3 Full_scale Error

        满度输出时对应的输入信号与理想输入信号值之差，Full_scale Error = Gain Error + Offset Error。满刻度输出时，记录输入信号值。

1.4 DNL

        任意两个相邻码值之间所测得变化值与理想的1 LSB变化值之间的差异。这个参数是用来描述ADC芯片线性度的一个参数。这个参数的公式这样计算：

        DNL表示的是微观状态下的偏差，理想ADC在输出码（如101）所对应的模拟信号的范围为1LSB，但实际的ADC对应的模拟信号范围可能或大或小，DNL就表示理想和实际的差值。其中DNL = -1.0LSB表示丢码。DNL值小并不代表SNR高，但DNL值大反映SNR下降。

直方图测试方法：

        直方图方法测试DNL，输入源为正弦波，DNL计算公式如下:

注：

PA(n):实际 ADC 第 n 个数字码出现的概率；

PI(n):理想 ADC 第 n 个数字码出现的概率。

采样点数 M 取决于 ADC 的分辨率 N，测试结果的置信度水平（1－α） 和DNL的误差精度β之间的关系如下

 实际输出的直方图

DNL曲线 

 1.5 INL

        ADC传递函数与一条通过ADC传递函数端点的直线的最大偏差。

        这个参数是用来描述ADC芯片线性度的一个参数。这个参数的公式这样计算：

        INL表示的是宏观状态下的偏差，在任意一个点，由于DNL的积累导致在那个点与理想值的差值。INL小并不代表THD低，但INL值大反映THD恶化。

直方图测试方法：

        直方图方法测试INL，输入源为正弦波。INL理论上是对DNL进行积分运算， 即对DNL 进行累加求和得到， 公式如下：

INL曲线 

2 ADC 动态参数

        动态特性描述的是ADC性能随着信号频率变化而变化的特征。

        既然是与频率有关，当然分析的函数图像就不是上面的传输特性曲线，而是与频率相关的频谱图。经FFT分析后，频谱中会包含有信号、失真、噪声这三个量。而相关指标的计算就是基于这三个量的。

2.1 SNR

        ADC输出端测得的信号对噪声比。

2.2 SINAD

        ADC输出端测得的信号对噪声及失真比

2.3 ENOB

        表示把当前ADC看做是理想ADC时所具有的分辨率位数。

2.4 SFDR

        信号RMS幅度与次最大噪声成分或谐波失真成分的RMS值之比。

        SFDR = 10 * log10 (Ph(1) / max(Ph(2:10)))

2.5 THD

        总谐波失真

        谐波一般取前10次谐波，从计算公式可知信号在分母位置，计算出来小于1或为负dB。总谐波失真计算方式如下： 

1. Ps：信号功率；

2. Pn：噪声功率；

3. Pd：由二到十次谐波引起的总失调功率；

4. Ph(1)：基波功率；

5. Ph(2:10)：二到十次谐波功率；

6. Vs：信号值；

7. VN：噪声值。