smart字段详解

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1.底层数据读取错率 Raw Read Error Rate: 对于希捷硬盘来说,许多硬盘的这一项会有很大的数据量,这不代表有任何问题,主要是看当前值下降的程度。

3.主轴起旋时间 Spin Up Time :该值代表主轴电机从启动至达到额定转速所用的时间 ,数值越小越好,某次启动的稍慢些也不表示就有问题。

4.启停计数 Start/Stop Count :这一参数的数据是累计值,表示硬盘主轴电机启动/停止的次数,过高的启动/停止次数暗示硬盘电机及其驱动电路可能有问题。

5.重映射扇区计数Reallocated Sectors Count/:这项参数的数据值直接表示已经被重映射扇区的数量,当前值则随着数据值的增加而持续下降。当发现此项的数据值不为零时,要密切注意其发展趋势,若能长期保持稳定,则硬盘还可以正常运行;若数据值不断上升,说明不良扇区不断增加,硬盘已处于不稳定状态,应当考虑更换了。

7寻道错误率 Seek Error Rate:这一项表示磁头寻道时的错误率,有众多因素可导致寻道错误率上升,但对希捷硬盘来说,即使是新硬盘,这一项也可能有很大的数据量,这不代表有任何问题,还是要看当前值是否下降.

9.通电时间累计 Power-On Time Count :这个参数的含义一目了然,表示硬盘通电的时间,数据值直接累计了设备通电的时长,这一参数的临界值通常为0,当前值随着硬盘通电时间增加会逐渐下降,接近临界值表明硬盘已接近预计的设计寿命,当然这并不表明硬盘将出现故障或立即报废。

10.主轴起旋重试次数 Spin up Retry Count:就是主轴电机尝试重新启动的计数,数据量的增加表示电机驱动电路或是机械子系统出现问题,整机供电不足也会导致这一问题.

11.通电周期计数 Power Cycle Count :通电周期计数的数据值表示了硬盘通电/断电的次数,即电源开关次数的累计,新硬盘通常只有几次。这一计数只是寿命参考值.

18.Unknown_Attribute: 未知属性,应该是公司自己定义。

187.无法校正的错误 Reported Uncorrectable Errors(希捷):报告给操作系统的无法通过硬件ECC校正的错误。如果数据值不为零,就应该备份硬盘上的数据了。

188。命令超时 Command Timeout:由于硬盘超时导致操作终止的次数。通常数据值应为0,如果远大于零,最有可能出现的是电源供电问题或者数据线氧化致使接触不良,也可能是硬盘出现严重问题。

190.气流温度 Airflow Temperature:这一项表示的是硬盘内部盘片表面的气流温度。在希捷公司的某些硬盘中,当前值=(100-当前温度),因此气流温度越高,当前值就越低,最差值则是当前值曾经到达过的最低点,临界值由制造商定义的最高允许温度来确定.

192.断电返回计数 Power-Off Retract Count:这个参数的数据值累计了磁头返回的次数。但要注意这个参数对某些硬盘来说仅记录意外断电时磁头的返回动作;而某些硬盘记录了所有(包括休眠、待机,但不包括关机时)的磁头返回动作;还有些硬盘这一项没有记录。因此这一参数的数据值在某些硬盘上持续为0或稍大于0.

193.磁头加载/卸载计数 Load/Unload Cycle Count :对于过去的硬盘来说,盘片停止旋转时磁头臂停靠于盘片中心轴处的停泊区,磁头与盘片接触,只有当盘片旋转到一定转速时,磁头才开始漂浮于盘片之上并开始向外侧移动至数据区。这使得磁头在硬盘启停时都与盘片发生摩擦,虽然盘片的停泊区不存储数据,但无疑启停一个循环,就使磁头经历两次磨损。所以对以前的硬盘来说,磁头起降(加载/卸载)次数是一项重要的寿命关键参数,对现在硬盘,该数值代表磁头执行加载/卸载操作的累计次数。

194.温度 Temperature:温度的数据值直接表示了硬盘内部的当前温度。硬盘运行时最好不要超过45℃,温度过高虽不会导致数据丢失,但引起的机械变形会导致寻道与读写错误率上升,降低硬盘性能。硬盘的最高允许运行温度可查看硬盘厂商给出的数据,一般不会超过60℃。希捷公司某些硬盘的当前值就是实际温度(摄氏)值,最差值则是曾经达到过的最高温度,临界值不具意义.

197当前待映射扇区计数 Current Pending Sector Counting:这个参数的数据表示了“不稳定的”扇区数,即等待被映射的扇区(也称“被挂起的扇区”)数量。如果不稳定的扇区随后被读写成功,该扇区就不再列入等待范围,数据值就会下降。

198 脱机无法校正的扇区计数 Offline Uncorrectable Sector Count:这个参数的数据累计了读写扇区时发生的无法校正的错误总数。数据值上升表明盘片表面介质或机械子系统出现问题,有些扇区肯定已经不能读取,如果有文件正在使用这些扇区,操作系统会返回读盘错误的信息。下一次写操作时会对该扇区执行重映射。

199.UDMA_CRC_Error_Count:这个参数的数据值累计了通过接口循环冗余校验,发现的数据线传输错误的次数。如果数据值不为0且持续增长,表示硬盘控制器→数据线→硬盘接口出现错误.

200.多区域错误率 Multi-Zone Error Rate:这个参数的数据累计了向扇区写入数据时出现错误的总数。有的新硬盘也会有一定的数据量,若数据值持续快速升高(当前值偏低),表示盘片、磁头组件可能有问题。

240.磁头飞行时间 Head Flying Hours:磁头位于工作位置的时间。

241 LBA写入总数 Total LBAs Written:LBA写入数的累计.

242 LBA读取总数 Total LBAs Read
LBA读取数的累计。某些SMART读取工具会显示负的数据值,是因为采用了48位LBA,而不是32位LBA。

参考连接:详解

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NVMe(Non-Volatile Memory Express)是一种高性能、低延迟的存储接口协议,用于连接计算机系统和闪存存储设备。NVMe SMART Log是一种系统用于诊断NVMe设备健康状况和性能的工具。 NVMe SMART Log提供了大量的存储设备信息,包括设备的各种计数器、指标和属性。通过分析这些信息,可以了解设备的使用情况、剩余寿命、错误状况等,对保证设备的正常运行和预测设备寿命具有重要意义。 在NVMe SMART Log中,有一系列的命名空间,每个命名空间代表一个逻辑卷,并包含了与该卷相关的SMART属性。每个SMART属性都有一个ID、一个名称和一个值。这些属性可以分为三个类别:通用属性、厂商特定属性和自定义属性。 通用属性包括设备的读写错误计数、擦除计数、可用寿命百分比等。这些属性适用于所有支持NVMe协议的设备,并提供了设备性能和健康情况的基本信息。 厂商特定属性是由存储设备制造商定义的,用于提供更详细的设备信息,如固件版本、温度传感器等。 自定义属性是由设备制造商根据其自身需求自行定义的,提供了特定设备的详细性能和状态信息。 通过查看NVMe SMART Log,用户可以及时发现设备的异常情况,如错误计数增加、寿命降低等,并采取相应的措施来保护数据和设备。同时,基于SMART日志,也可以进行设备寿命预测,合理规划设备的使用和更换。 总之,NVMe SMART Log对于存储设备的健康状态监测和性能分析至关重要,它提供了大量的有用信息,帮助用户及时发现设备问题,并采取措施来保护数据和设备。

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