过采样提高采样精度
- 过采样技术的要点如下:
- 定理1:每将采样频率提高
4
倍,便会增加1
位精度。- 由定理1可以推出:要得到额外的
p
位精度,采样频率就需要提高4^p
.
- 由定理1可以推出:要得到额外的
- 定理2:以经过
4^p
的过采样率得到的采样值进行- 求和,求和完后便会的到
R+2p
位的数值(R为之前的精度) - 右移p位,右移后便会得到
R+p
位的数值,此值就是提高了p
位精度的采样结果。
- 求和,求和完后便会的到
- 定理1:每将采样频率提高
- 举个例子:将12位精度的ADC提高到14位精度,当前一个周期采样32点。实现步骤如下:
- p = 14 - 12 = 2.计算得到要提高的精度位
2
位。 - 需要提高的采样频率倍数为 =
4^p = 4^2=16
. 那么现在就要采集32*16=512个点。 - 对采样点(每16个点)进行
求和
,将求和的值右移2位
。最终得到提高2位精度
的32个点(512/16=32)。
- p = 14 - 12 = 2.计算得到要提高的精度位
关于技术交流
此处后的文字已经和题目内容无关,可以不看。
qq群:825695030
微信公众号:嵌入式的日常
如果上面的文章对你有用,欢迎打赏、点赞、评论。