集成逻辑门逻辑功能测试与应用电路

一、目的

1．认识数字集成电路，掌握数字集成电路的使用常识；

2．学习逻辑实验箱的使用；

3．掌握基本门电路逻辑功能测试方法。

二、设备与器材

序号	名       称	型号与规格	数  量	备  注
1	数电实验箱		1
2	万用表		1
3	四 2 输入与非门 74LS00；		1
4	四 2 输入与非门 CD4011；		1
5	四 2 输入异或门 74LS86；		1
6	2 路 3－3、2 路 2－2 输入与或非门 74LS51		1

三、原理

       晶体管工作在开关状态时，以“导通”或者“截止”来表示两种输出状态，并用二 进制数“1”或“0”表示。能够实现二进制数的逻辑运算、数据传输、状态转换、数据存 储的集成电路称为数字集成电路。按集成电路内部所用的有源器件不同，可分为 TTL 型、CMOS 型。按功能分为基本门电路、集成组合电路、集成触发器、集成计数电路 等。

四、内容与步骤（结果）

（1） TTL与非门逻辑功能测试（74LS00）

与非门逻辑图（见图9.3），参数测试表（见表9.3）。

                                   图9.2 74LS00外引线图、逻辑符号及逻辑图

（2）CMOS与非门逻辑功能测试（CC4011）

（3）异或门逻辑功能测试（74LS86）

（4）与或非门逻辑功能测试（74LS51）

（5）门电路（74LS00）逻辑功能的转换

如图9.9所示，参数测试表见表9.7。

           表9.7  功能测试表

自行设计用与非门（74LS00）电路组成与门、或门、异或门电路并验证。

（6）观察与非门对脉冲信号的控制作用

测试电路见图9.10，连续脉冲信号选用“单脉冲”，并作用于输入端A，控制信号选用“逻辑开关”，连接于输入端B。控制信号由低电平“0”和高电平“1”状态组成。观察控制信号分别为“0”和“1”状态时输出端Y的状态，判断输入信号的传输条件，并描绘输出波形图（见图9.11）。