试题 基础练习 芯片测试
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问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
思路
对于每一列:假设这个芯片是好的,那么这一列1的个数一定大于0的个数。因为用坏的芯片来测试这个好芯片结果可能是1也可能是0,总体1的个数和0的个数各占50%,如果用好的芯片来测试结果一定是1,。
n = eval(input())
l = []
for i in range(n):
a = list(map(int,input().split()))
l.append(a)
for i in range(n):
sum = 0
for j in range(n):
sum+=l[j][i]
if sum>n//2:
if i == 0:
print('%d'%(i+1), end='')
else:
print(' %d' % (i + 1), end='')