提示:文章写完后,目录可以自动生成,如何生成可参考右边的帮助文档
前言
最近做到了MOSFET的替换测试,就在此做一些总结。当然了首先也得明白替换器件在电路中起到了什么作用,再去对比、罗列测试计划、评审等。
查看网上有关MOSFET的资料那是相当的多,所以还是根据自己的电路有选择的去看去了解,研究的太深太多也没有多余的时间T_T
一、额定电压
有两个地方的电压,分别的VDSS(有的应该也叫VDS):漏极与源极之间所能施加的最大电压。VGSS:栅极与源极之间所能施加的最大电压值。
图1栅极与源极图2漏极与源极
二、额定电流量
ID(DC):漏极允许通过的最大直流电流,
会受到导通阻抗、封装和内部连线的限制。
三、温度与Ron的关系
导通电阻会随温度升高而升高
四、额定功率
PT:片子所能承受的最大功耗。
五、额定温度
Tch:MOSFET的沟道上限温度
Tstg:MOSFET器件本身或者使用了MOSFET的产品保存温度范围
六、热阻
热阻越小,散热性越好。可根据功耗及额定温度算出,单位为℃/W。
七、安全动作区
图3安全动作区
八、抗雪崩
在一些有感性负载开关动作时,在开路-接通-关断,关断的瞬间会有感生电动势产生,会有一个大的尖峰。这时候电路可能会加一些吸收电路。
九、内部容量
GDS各极之间有电容,容量值越小QG越小,开关的速度也就越快,相应的开关损耗就会越小。
十、电荷量
Q=C*V,开关时间t=Q/I
电荷容量越大,开关时间就越大,相应的开关损耗也就越大。
总结
总结一下替换中对比的一些关键参数,其实还有别的关键参数如内部二极管相关的等等,不过我没用到。