1. 错误率和精度(拟合度,最基本的方法)
2. 混淆矩阵
查全率:P=TP/(TP+FP)(“宁可错杀一千,也不放过一个”)
查准率:R=TP/(TP+FN)
查全率和查准率是一对矛盾的度量,一般来说,查准率高时,查全率会低。以查准率(P)为纵轴,查全率(R)为横轴,可绘制出“P-R图”。
比较曲线下面积,它在一定程度上反映了查全率和查准率取得“双高”的比例。但不容易估算,因此人们设计了一些综合考虑查全率和查准率的性能度量:
(1) 平衡点(BEP,Break-Even Point),它是“查准率=查全率”时的取值。如图中A,B,C点。
(2) 由于BEP过于简化,所以更常用的还是F1度量:
F1是基于查全率和查准率的调和平均定义的: