第四讲：统计分析之良率和敏感度分析

第四讲：统计分析之良率和敏感度分析

摘要：
凡是产品批量生产都会涉及到产品良率的问题。元件实际参数之间的偏差，PCB板制造工艺的偏差，工作环境温度不同等等都会造成实际结果和设计初衷的差异，产生产品不良率。该节主要讲述ADS软件在设计阶段分析系统的敏感性元件，以及良率分析。

目标
分析现实存在的误差（元件本身的误差、制造工艺的误差）对电路性能的影响，从而最大程度的降低器影响。

误差
实际使用的元件或制造工艺一般都有一定的误差，例如标称值为1nH，容差为正负10%的电感，器实际值将是09nH—1.1nH之间满足一定统计分布的随机值

统计分析
利用统计学的观点来研究电路参数容差对电路性能的影响
常用的方法是蒙特卡罗（MonteCarlo）法
蒙特卡罗法是利用计算机产生各种不同分布的随机数，来模拟产生电路参数随机值，并对由此形成的电路进行分析，给出分析结果。

蒙特卡罗分析、良率分析（Yield）、敏感度分析（Sensitivity）
进行统计分析之前需要指出元件参数容差分布
1、 高斯正态分布—Gaussion
2、 均匀分布—Uniform
3、 离散分布—Discrete
4、 对数分布—LogNormal

信心指数和样本数
信心指数是表明当前统计的可行程度
信心指数的三个level
1 68.3%
2 95.4%
3 99.7%
良率分析的样本数

良率分析—Yield

良率分析步骤
1、 定义器件误差或者生产工艺误差
2、 设置合格品的性能规格（Yield Spec控件）
3、 设置样板数等参数（Yield控件）
4、 运行分析
5、 查看结果

敏感度分析
定义：良率的百分比变化与电路参数值百分比变化二者之间的比值，即电路参数每改变1%对应的良率百分比变化值
通过敏感度分析可以找出对电路性能影响较大的元件参数

敏感度分析步骤
1、 指定可优化参数
2、 设置Goal（Goal控件）
3、 放置敏感度分析控件
4、 运行分析
5、 查看结果

良率优化
根据用户指定的可优化参数和定义的良率要求进行优化分析，以调高良率
良率优化步骤
1、 指定可优化参数
2、 设置良率要求（Yield Spec）
3、 放置良率优化分析控件（Yield Optimization），设置优化迭代次数
4、 运行良率优化分析
5、 查看结果
6、 更新优化后的元件值

良率分析实操

1、蒙特卡罗–统计分析

2、设置样本数

3、信心指数

4、MC控件指定仿真控件名称

5、点击Simulate按钮

6、柱状图显示函数histogram（）

良率分析

1、设置误差分布

2、设置合格品的规格要求，设置freq为全局变量

3、放置Yield控件

4、修改样本数

5、运行良率分析

敏感度分析

1、Enable元件的优化参数，不关心优化范围

2、设置分析目标

3、运行敏感度分析

分析结果

良率优化

1、设置元件Optimization的优化范围，参考下图的Statistics的设置

2、放着良率优化控件

3、运行敏感度分析

分析结果

4、更新良率优化后的元件值