DST & Get Log Page相关NVMe Command

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已于 2025-02-24 13:48:00 修改

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分类专栏： PCIe 固件开发 NVMe 文章标签： NVMe 接口驱动开发

于 2025-02-18 15:05:16 首次发布

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Admin Command

1. Device Self-Test（DST）设备自检命令

参考SQE结构：
在这里插入图片描述

Namespace Test Action
在NSID字段中如果设置为00000000h表示不包括NS，DST操作只包括Controller；
00000001~FFFFFFFEh表示指定NSID，当Namespace为invalid/inactive状态时Controller Abort该命令；
FFFFFFFFh表示操作可以通过Controller访问包括所有active状态在内的Namespace
在这里插入图片描述

DW10中定义**STC （Self-test Code）**包括如下action：

Short device
Extended device
Vendor-specific device
Abort in-process operation

对于CQE，Command Specific 状态值设置

DST的Status Value（CQE中Status Field的Bits[24:17]）为1Dh

Status Field有自己的数据结构，如下，包括了状态码等内容
在这里插入图片描述
Status Code Type Value定义如下

Status Code Type 类型如下：
对DST的CQE中Command Specific指定为1h

在这里插入图片描述

DST（Device Self-test）命令的使用场景
(1) 自检类型
Short Self-test（SCT=1h）：快速检查控制器和NAND的基本功能（如寄存器、接口）。
Extended Self-test（SCT=2h）：全面检测（包括坏块扫描、ECC校验、数据完整性）。
Abort Self-test（SCT=Fh）：中止正在运行的自检。

短自检（Short Device Self-test）：
完成时间：2分钟以内
测试范围：快速检查控制器的基本功能（如RAM、SMART状态、元数据等）。
可中断性：可以被控制器重置、Format NVM命令、Sanitize操作或中止自检命令中断。
扩展自检（Extended Device Self-test）：
完成时间：由Identify Controller数据结构中的Extended Device Self-test Time字段指定。
测试范围：更全面的测试，包括NVM介质完整性、数据完整性、介质检查等。
可中断性：可以被Format NVM命令、Sanitize操作或中止自检命令中断，但会跨控制器重置和电源恢复继续执行。

自检操作分为多个段（Segment），每个段包含一组测试，具体定义可以参考NVMe协议中
在这里插入图片描述
包括RAM CHECK、SMART CHECK、MEDIA CHECK等。

段号	测试内容	失败条件
1	RAM检查	写入测试模式并验证读取结果。任何不可纠正的错误或数据不匹配。
2	SMART检查	检查SMART/Health Log中的关键警告位。任何关键警告位被设置为1。
3	易失性内存备份	验证备份电源的健康状态。备份能力显著下降。
4	元数据验证	确认所有元数据副本的完整性。元数据损坏且不可恢复。
5	NVM完整性	对NVM保留区域进行写/读/比较测试。数据不匹配。
6	数据完整性	执行后台任务以增强数据完整性。元数据损坏且不可恢复。
7	介质检查	从每个可用物理块执行随机读取。无法访问物理块。
8	驱动器寿命	评估驱动器是否适合继续写入操作。 SMART/Health Log中的Percentage Used为255，或内部参数表明继续写入会危及数据。
9	SMART检查	与段2相同。任何关键警告位被设置为1。

哪些命令可以同时处理，哪些命令需要暂停设备自检操作，具体取决于供应商，固件代码中可以自定义这些CHECK的实现方法。

中断自检操作的条件：Format NVM、Sanitize、中止命令等。

(2) 使用场景
出厂测试：
在SSD出厂前执行扩展自检，确保硬件无缺陷。
定期维护：
数据中心定期运行自检，预防潜在故障。
故障诊断：
当SSD出现异常（如频繁CRC错误），运行自检定位问题。
安全擦除前检查：
在安全擦除（Sanitize）前执行自检，确保设备状态正常。

2. Get Log Page

Get Log Page命令返回一个Log和对应的信息范围可能是Controller或NVM Subsystem，Dowrd10中低8位返回LID，对于DST命令指定的Log Identifier为06h ，当Identify Controller DS中的DSTO字段为0表示Controller Scope，1表示NVM Subsystem。
Device Self-test Log共564Bytes，Log中一共保存20个Self-test Result Data Structure，每个28Bytes。
在这里插入图片描述

Get Log Page – Self-test Result Data Structure
Bytes[00]Bits[3:0]中Value 9h表示因为sanitize操作，操作被abort
Segment Number表示第一次自检错误发生的段号。如果Status field中bits[3:0]不是0x111h，则该域应当被忽略。
在这里插入图片描述

Device Self-test Log（与DST命令相关）
作用：记录设备自检（Device Self-test）的状态和结果。

关键字段：
Current Device Self-test Status：当前自检状态（0h=无操作，1h=短自检中，2h=扩展自检中）。
Newest Self-test Result：最近一次自检结果（成功/失败、自检类型、时间戳）。

与DST命令的关联：
执行 Device Self-test Command（启动或中止自检）后，通过Get Log Page获取自检日志。

Eg. 监控自检进度
步骤1：启动扩展自检

发送 Device Self-test Command（SCT=2h）。

步骤2：周期性获取自检日志

使用 Get Log Page（LID=??，假设为06h）获取Device Self-test Log。
Currenet Self-Test Operation: 表示有没有in progress
Currenet Device Self-Test Completion：表示进度
检查Current Device Self-test Status：
bits[7:4] ST Code Value;
bits[3:0]表示result：