IGBT测试仪

1.1 系统概述
ENJ2005-C测试系统（以下简称系统）是西安易恩电气科技有限公司推出的半导体分立器件测试系统，该系统符合国军标GJB128-86和国家标准GB/T 4587-94测试规范。
联系易恩：152 4920 2572。
系统适合工厂、研究所用做元器件筛选、检验、分析以及器件生产厂用做生产测试。系统可扩展性强，通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。测试自动快速，可以满足各种用户需要。故障率低，保证了用户的生产效率。使用简捷方便，在PC窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程，操作人员不需具备专业计算机编程语言知识。

1.1.1测试范围
ENJ2005-C系统是专为测试半导体分立器件而设计。能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关组合器件、器件阵列，测试种类如下：

1. 二极管 DIODE
2. MOS场效应管 POWER MOSFET（N-沟/P-沟）
3. 绝缘栅双极大功率晶体管 IGBT（NPN型/PNP型）
   1.1.2接口
   ENJ2005-C半导体分立器件自动测试系统提供以下接口：
   J1 RS232接口，用于与主控PC机连接进行数据传输。
   J3 用以连接小电流台的接口。
   J4、J5 分别是连接大电流台选件的直流电源和控制信号接口。
   其它接口如探针台、分选机，根据用户需求配置。
   1.1.3设备外观说明
   （1）前面板上的术语
   1）A、G、K、AS、GS、KS表示与夹具相对应的