DFT
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scan、bist
Jay丶ke
这个作者很懒,什么都没留下…
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DFT-Bist
内建自测试(Bist)内建自测试(BIST)设计技术通过在芯片的设计中加入一些额外的自测试电路,测试时只需要从外部施加必要的控制信号,通过运行内建的自测试硬件和软件,检查被测电路的缺陷或故障。和扫描设计不同的是,内建自测试的测试向量一般是内部生成的,而不是外部输入的。内建自测试可以简化测试步骤,而且无需昂贵的测试仪器和设备(如ATE设备),但它增加了芯片设计的复杂性。什么是BIST测试技术?内建自测(Built-in Self Test) 简称BIST,是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测原创 2022-03-17 10:44:06 · 1618 阅读 · 0 评论 -
DFT-scan
前言通俗来讲,制造过程中由于粉尘颗粒,工艺偏差等因素,难免会引入制造缺陷,导致晶体管短路或断路,然后不能正常工作。DFT技术其实就是把DFT逻辑加入到芯片设计中,然后等芯片制造回来,通过事先加入的DFT逻辑对芯片进行体检,挑出体格健壮的芯片,保证送到客户手上的芯片是没有故障的。DFT指的是在芯片原始设计中阶段即插入各种用于提高芯片可测试性(包括可控制性和可观测性)的硬件逻辑,通过这部分逻辑,生成测试向量,达到测试大规模芯片的目的。测试与验证的区别验证(Verification)的目的是检查设计中的原创 2022-03-17 10:37:48 · 2717 阅读 · 0 评论