射频芯片测试座

目录

一、前言

二、射频测试座的指标及作用

三、射频测试座的构成

四、RF射频测试座的工作原理

五、RF射频测试座的制作方法

六、RF射频测试座的保养

科普:时域与频域

一、前言

我们都知道,射频组件和射频芯片是无线连接的核心,也是半导体行业的重要组成部分。随着5G和WIFI6的出现,射频技术也遇到了新的挑战和机遇。目前,射频组件和射频芯片的设计和生产能力仍然比较薄弱。随着国家战略调整政策的实施,越来越多的资源投入到射频组件和芯片的开发和生产中。在这个过程中,在中国,迫切需要满足RF芯片的生产测试。

测试中的困难是:

  1. 被测设备越来越小,测试频率越来越高。许多设备的尺寸小于1mm。测试频率高于40GHZ。
  2. 受测试夹具和校准的影响,如何准确测量是制造商面临的首要问题。

图:测试夹具 

二、射频测试座的指标及作用

测试指标:

  • 驻波,插入损耗;
  • 中心频率,带宽;
  • 带内波动,带外抑制,组延迟等。

测试座在RF芯片的测试中起什么作用:

一般来说,RF射频测试座可以在研发和小批量生产阶段进行测试工作。手动进行测试,并根据客户的射频芯片尺寸和测试参数精确定制测试座,以确保测试结果的准确性.

三、射频测试座的构成

RF射频测试座是几个部分构成,首先是测试座外壳+测试座常规探针+RF射频同轴连接器

RF射频测试座中,大部分结构和普通的测试座类似,除了同轴连接器的部分。

现在主要说说RF连接器。RF连接器即射频同轴连接器,主要起通讯射频作用。经过全球通讯行业的共同努力,使RF连接器形成了专业体系以及国际标准,同时也是连接器的必不可少的组成部分。

四、RF射频测试座的工作原理

RF射频测试座的常规pin脚还是采用对应的pogo pin探针,但是由于射频传输信号需要特别的媒介,所以相应的连接器部分也很特殊,我们比较常见的射频同轴连接器(RF COAXIAL CONNECTOR)就是其中之一,这个部件会被嵌入到测试座中,用于测试时候的射频导通。

对应相应测试座中射频连接器的设计选择,可以参考如下(不仅限于如下接口),同时在定制测试座的时候,也需要向供应商提出自己芯片的插损和回损要求(即S12/S21和S11),同时也需要提出自己的接触阻抗要求:

BNC是卡口式,多用于低于4GHz的射频连接,广泛用于仪器仪表及计算机互联。

TNC是螺纹连接,尺寸等方面类似BNC,工作频率可达11GHz,螺纹式适合振动环境。

SMA是螺纹连接,应用最广泛,阻抗有50和75欧姆两种,50欧姆时配软电缆使用频率低于12.4Ghz,配半刚性电缆最高到26.5GHz。

SMB体积小于SMA,为插入自锁结构,用于快速连接,常用于数字通讯,是L9的换代品,50欧姆可到4GHz,75欧姆到2GHz。

SMC为螺纹连接,其他类似SMB,有更宽的频率范围,常用于军事或高振动环境。

N型连接器为螺纹式,以空气为绝缘材料,造价低,频率可达11GHz,常用于测试仪器上,有50和75欧姆两种。

MCX和MMCX连接器体积小,用于密集型连接。

BMA用于频率达18GHz的低功率微波系统的盲插连接。

五、RF射频测试座的制作方法

当前随着5G以及WIFI6等高速通讯标准的升级,RF射频测试座的需求越来越多,也越来越高,当前主要的RF芯片会用到老化测试,功能测试,以及极端环境下的特种测试,所以也对RF射频测试座提出了更为高的测试需求。

产品设计需要依靠数据,包括芯片的尺寸(长宽厚度),芯片间距,芯片的形状,芯片测试中芯片需要运行的频率,以及对应的插损,回损等数据。有些RF芯片功率较大,有可能需要提供过流需求,众所周知,测试座pogo pin过流能力小于1A,所以说芯片的电源引脚过流能力也需要考虑进去,要不然会影响芯片的火力全开的测试数据。

Socket + RF同轴连接器(还需要考虑到隔离)

六、RF射频测试座的保养

射频测试座的话,需要定期保养,最好是每使用5000次用显微镜检查下接触探针或者RF射频连接器的情况,查看针顶部是否有污物以及针的磨损情况,保证测试座始终保持良好的测试状态。如果是有污物,建议使用超声波清洗设备,放入高纯度酒精进行超声波清洁,然后用气枪做最后的清洁,保证测试座在干燥的状态,保证产品的使用寿命以及测试性能。如果有轻微磨损,不影响测试(即测试数据没有很大的误差),可以在清洁后继续使用。如果说很严重的损伤,就需要更换探针以及RF连接器,才能继续使用了。

 图:同轴探针

科普:时域与频域

时域是描述数学函数或物理信号对时间的关系。例如一个信号的时域波形可以表达信号随着时间的变化。  若考虑离散时间,时域中的函数或信号,在各个离散时间点的数值均为已知。若考虑连续时间,则函数或信号在任意时间的数值均为已知。  在研究时域的信号时,常会用示波器将信号转换为其时域的波形。

频域frequency domain 是描述信号在频率方面特性时用到的一种坐标系。对任何一个事物的描述都需要从多个方面进行,每一方面的描述仅为我们认识这个事物提供部分的信息。例如,眼前有一辆汽车,我可以这样描述它方面1:颜色,长度,高度。方面2:排量,品牌,价格。而对于一个信号来说,它也有很多方面的特性。如信号强度随时间的变化规律(时域特性),信号是由哪些单一频率的信号合成的(频域特性)

 

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受最大上传文件大小限制,这套封装库分为5部分提供下载,还是挺不错的,第五部分是原理图库 0.1 - 电阻-电容-电感.SchLib 0.2 - 二极管-整流桥.SchLib 0.3 - LED发光二极管.SchLib 0.4 - 三极管.SchLib 0.5 - 场效应管-可控硅.SchLib 0.6 - 数码管-TFT屏.SchLib 0.7 - 常用按键-开关.SchLib 0.8 - 网口-音频插.SchLib 0.9 - 模块.SchLib 1.0 - 常见芯片.SchLib 1.1 - 电源类芯片.SchLib 1.2 - 传感元件.SchLib 1.3 - CD4000系列芯片.SCHLIB 1.4 - 74系列TTL芯片.SchLib 1.5 - 继电器.SchLib 1.6 - ADI系列精密运放.SchLib 1.7 - MAX系列芯片.SchLib 1.8 - WiFi天线-SMA射频.SchLib 1.9 - CH341系列编程器芯片.SchLib 2.0 - 保险丝-晶振-光耦.SchLib 2.1 - STM8L系列MCU 集成库.IntLib 2.2 - STM32 F0系列MCU 集成库.IntLib 2.3 - STM32 F1系列MCU 集成库.IntLib 2.4 - STM32 F2系列MCU 集成库.IntLib 2.5 - STM32 F4系列MCU 集成库.IntLib 2.6 - STM32 L1系列MCU 集成库.IntLib 2.7 - STM32W系列MCU 集成库.IntLib 2.8 - STC系列单片机.SchLib 2.9 - HT系列单片机.SchLib 3.0 - MSP430系列单片机.SchLib 3.1 - AVR系列单片机.SchLib 3.2 - Atmel系列单片机.SchLib 3.3 - PIC系列单片机.SchLib 3.4 - 合泰单片机.SchLib 4.0 - OV系列CMOS图像传感器.SchLib 4.1 - 未分类器件.SchLib 4.2 - 变压器.SchLib 4.3 - FLASH存储器.SchLib 4.4 - ADC模数转换器件.SchLib 4.5 - 电子管.SchLib 5.0 - 接插件-脚距1.25.SchLib 5.1 - 接插件-脚距1.5.SchLib 5.2 - 接插件-脚距2.0.SchLib 5.3 - 接插件-脚距2.54 (100mil) .SchLib 5.4 - 接插件-脚距3.5.SchLib 5.5 - 接插件-脚距3.81 (150mil) .SchLib 5.6 - 接插件-脚距3.96.SchLib 5.7 - 接插件-脚距5.0.SchLib 5.8 - 接插件-脚距5.08 (200mil) .SchLib 5.9 - 接插件-脚距7.62 (300mil) .SchLib 7.0 - 数字符号.SCHLIB 7.1 - 模拟符号.SCHLIB OpAmp比较器.SchLib 数字电路CMOS&TTL74.SCHLIB

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