计算机考研408考试关键词、专有名词、术语等英文缩写和全称

关键词缩写全称注释
单指令单数据流系统SISDsingle instruction single data即传统冯诺依曼结构
单指令多数据流系统SIMDsingle instruction multiple data阵列处理器和向量处理器系统
多指令单数据流系统MISDmultiple instruction single data不存在
多指令多数据流系统MIMDmultiple instruction multiple data多处理器和多计算机系统
地址寄存器MARMemory Address Register位数对应存储单元个数
数据寄存器MDRMemory Data Register位数对应存储字长,等于PC位数
算数逻辑单元ALUArithmetic and Logical Unit运算器核心
累加器ACCAccumulator
乘商寄存器MQMultiple-Quotient Register
操作数寄存器X
变址寄存器IX
基址寄存器BRBase Register
程序状态寄存器PSWProgram Status Word标志寄存器
程序计数器PCProgram Counter存放下一条指令的地址,与MAR有直接通路
指令计数器IRInstruction Register当前指令,内容来自MDR
控制单元CUControl Unit存放操作码OP
中央处理器CPUCentral Processing Unit运算器+控制器
通用寄存器组GPRsGeneral Purpose Registers
操作系统OSOperating System系统软件
数据库管理系统DBMSDatabase Management System系统软件
数据库系统DBSDatabase System不是系统软件
CPIClock cycle Per Instruction执行一条指令所需要的时钟周期数
MIPSMillion Instruction Per Second每秒执行多少百万条指令
循环冗余校验CRCCyclic Redundancy Check
随机存储器RAMRandom Access Memory易失,分为静态和动态
只读存储器ROMRead-Only Memory非易失
顺序存取存储器SAMSequential Access Memory磁带
直接存取存储器DAMDirect Access Memory光盘磁带
相联存储器CAMContent Addressed Memory快表
只读型光盘存储器CD-ROMCompact Disc Read-Only Memory一次写入
静态随机存储器SRAMStatic Random Access Memory触发器,Cache,非破坏性,不用刷新,地址不复用
动态随机存储器DRAMDynamic Random Access Memory电容,内存,破坏性,刷新,地址复用
同步动态随机存取内存SDRAMSynchronous Dynamic Random Access MemoryDDR4
掩模式只读存储器MROMMask Read-Only Memory生产时一次写入
一次可编程只读存储器PROMProgrammable Read-Only Memory用户可写入一次
可擦除可编程只读存储器EPROMErasable Programmable Read-Only Memory紫外线擦除,电擦除,重写速度慢
闪速存储器闪存Flash Memory重写速度快,U盘,SD卡
固态硬盘SSDSolid State Drives重写速度更快
随机算法RANDRandom随机替换
先进先出算法FIFOFirst In First Out
近期最少使用算法LRULeast Recently Used替换最久没使用的
最不经常使用算法LFU,Least Frequently Used替换使用次数最少的
快表TLBTranslation Lookaside Buffer页表项的副本
复杂指令系统计算机CISCComplex Instruction Set Computer
精简指令系统计算机RISCReduced Instruction Set Computer
写后读RAWRead After Write数据冲突的一种情况
读后写WAR
写后写WAW
工业标准体系结构ISAIndustry Standard Architecture最早出现的微型计算机系统总线
扩展ISAEISAExtended ISA系统总线
视频电子标准协会VESAVideo Electronics Standard Architecture局部总线,高速传送活动图像
外部设备互联PCIPeripheral Component Interconnect局部总线。不依附于某个具体的处理器,支持突发传送。支持即插即用。适配显卡、网卡、声卡等
加速图形接口AGPAccelerated Graphics Port显卡专用局部总线
PCI新标准PCI-EPCI-Express将取代PCI和AGP
美国EIA推荐标准RS-232CRecommended Standard串行通信总线,串行二进制交换
通用串行总线USBUniversal Serial Bus设备总线、串行,即插即用,热插拔
小型计算机系统接口SCSISmall Computer System Interface智能通用接口,用于计算机和智能设备之间(硬盘、软驱、光驱、打印机、扫描仪等)
PCMCIAPersonal Computer Memory Card International Association便携设备接口,即插即用,用于笔记本电脑
集成电路设备IDEIntegrated Drive Electronics硬盘光驱接口
串行高级技术附件SATASerial Advanced Technology Attachment串行硬盘接口
阴极射线管CRTCathode Ray Tube
液晶显示器LCDLiquid Crystal Display
发光二极管LEDLight-Emitting Diode
廉价冗余磁盘阵列RAIDRedundant Arrays of Independent DisksRAID0 ~ RAID5采用不同方案
直接存储器访问DMADirect Memory Access关键考点
先来线服务FCFSFirst Come First Serve可以用于作业调度和进程调度
短作业优先SJFShortest Job First会产生饥饿,也可以用于进程
高响应比优先HRRNHighest Response Ratio Next非抢占式,不会饥饿
时间片轮转RRRound-Robin常用于分时操作系统,抢占式
文件控制块FCBFile Control Block文件目录项
主文件目录MFDMaster File Directory
用户文件目录UFDUser Flie Directory
文件分配表FATFile Allocation Table盘块号=下一块
设备控制表DCTDeviceControlTable
控制器控制表COCTController Control Table
通道控制表CHCTChannel Control Table
系统设备表SDTSystem Device Table
外部设备联机并行操作SPOOLingSimultaneous Peripheral Operations On-Line假脱机技术
逻辑设备表LUTLogical Unit Table将逻辑设备映射为物理设备
抽象数据类型ADTAbstract Data Type
计算机网络计算机网络链接
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### 回答1: STDf文件是被广泛使用于半导体测试行业的一种数据格式。是Semiconductor Test Data Format(半导体测试数据格式)的缩写。STDf格式文件能够存储一段时间的测试数据,包括每个芯片的测试结果、测试程序、测试条件、测试设备、测试时间等信息。 专有名词解释如下: 1. Test program(测试程序):是在芯片测试过程中使用的软件程序,用于进行测试操作的自动化 2. Test Head(测试头):一种具有测试卡和传感器的设备,用于接触芯片并读取测试结果。 3. Tester(测试仪):主要用于进行半导体器件或电路测试和分析的设备 4. Device Under Test(芯片):被测量器件或电路 5. Pin(引脚):在芯片上用于连接电路的金属引脚 6. Site(测试站):测试头的一个位置,它可以用于测试一个芯片或一组芯片。 7. Scan Chain(扫描链):在芯片中引导测试信号流动的序列。 8. Timing Information(时序信息):在每次测试期间记录的时间信息,用于对测试结果进行时间分析。 9. Wafer(晶圆):是芯片生产过程中用于切割成芯片的大片硅晶体。 10. Test Condition(测试条件):定义了在测试过程中用于设置测试参数和测试设备的规范和条件。 ### 回答2: STD(Stand Test Data Format)文件是半导体测试数据的标准格式,用于记录芯片的测试数据信息。它是一种二进制格式,通常以*.std文件扩展名表示,可被各种半导体测试设备和测试工具支持。 STD文件中的专有名词主要包括以下几个:Test Head,Site,Pin,Vector,Part,Wafer。其中,Test Head是测试头,位于测试工站上,用于发出测试信号和接收反馈信号,控制芯片的测试过程;Site是指芯片测试站点的序号,一个芯片会有多个测试站点;Pin是指芯片的引脚,每个站点上有一个或多个引脚;Vector是测试向量,即测试程序中芯片测试所需的信号序列,包含多个测试点的信号信息;Part是测试批次的名称,用于标识同一个批次的芯片;Wafer是指晶圆,即多个芯片在同一片晶圆上制造而成,测试时需要将测试向量应用到各芯片上。 除此之外,STD文件还包含如时间戳、测试程序版本、测试结果等信息,方便对芯片的测试数据进行分析和管理。STD文件的统一格式不仅可以保证测试结果的一致性和可靠性,还方便了不同测试设备和测试工具的数据转换和共享。 ### 回答3: STDF (Standard Test Data Format)文件是集成电路测试数据的标准格式。它是由Semiconductor Test Data Exchange Format Working Group(STDF WG)开发的一种二进制文件格式。这一组织的成员包括各大半导体公司和测试设备制造商。 STDF文件分为头部记录和数据记录两部分。头部记录包含了关于测试数据的基本信息,如生产、测试日期,整个文件的版本等。数据记录是针对每个被测试元件生成的测试数据,包括被测试元件的型号、序列号和被测试功能等。 STDF文件中包含了一些专有名词,需要解释一下。其中,WAFER(晶圆)是指在半导体制造过程中,被加工的圆片状硅晶体,用于制造芯片。LOT(批次)是指在制造晶圆时,将同种型号的晶圆放在一起进行生产和测试,称为批次。首件(FIRST)指的是批量生产之前,取出一片晶圆,用于测试制造工艺是否正确。 另外,STDF文件中还有元件标志(PARTID)和测试标志(TEST_NUM、TEST_FLG)等字段,用于定位被测试元件和识别产生的测试数据。 总而言之,STDF文件是记录集成电路测试数据的标准格式,通过标准化数据格式,方便各大公司之间的数据交流,促进了半导体产业的发展。

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