基础练习 芯片测试
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问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
思路:
由于好芯片比坏芯片多,所以我们推导出当一个芯片的合格次数大于 n/2 的时候就一定是合格的芯片
代码:
#include<bits/stdc++.h>
using namespace std;
int main()
{
int n;
int map[25][25];
int cot[25];
memset(map,0,sizeof(map));
memset(cot,0,sizeof(cot));
scanf("%d",&n);
for(int i=1;i<=n;i++)
{
for(int j=1;j<=n;j++)
{
scanf("%d",&map[i][j]);
if(map[i][j]==1)
{
cot[j]++; //计算每一列1出现的个数
}
}
}
int flag=0; //控制输出格式
for(int i=1;i<=n;i++)
{
if(cot[i]>n/2)
{
if(!flag)
{
printf("%d",i);
flag=1;
}
else
printf(" %d",i);
}
}
return 0;
}