DIO测试

作者简介: 一个平凡而乐于分享的小比特,中南民族大学通信工程专业研究生在读,研究方向无线联邦学习
擅长领域:驱动开发,嵌入式软件开发,BSP开发
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1.硬件原理图说明

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2. Din测试

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按照上图的说明方法,将Din-0短接GND,此时Din-0输出低电平,测量R6114两侧的电压值,红表笔接一侧,黑笔接地。此时可以发现万用表显示电压为0.17v左右。其他的三个Din均是相同的方法。

注意:为什么不是0V而是0.17v的微弱电压?

因为从下图可以看出光耦内置三极管的CE结,饱合导通时会存在一定的压降,这个0.17v即为压降。

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3. Dout测试

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如上图所示连接好电路,以Dout-0为例说明,其他的Dout的测试方法均相同

输入gpioset 0 4=0,使gpio输出为低电平,用万用表测试R6211两端的电压正常情况均为0v。

输入gpioset 0 4=1,使gpio输出为高电平,用万用表测试R6211两端的电压正常情况均为3.3v。

注意:在RK3568上如果某个gpio没有被复用,默认情况下该引脚的模式是gpio模式,但是此处的GPIO0_PA4例外,所以需要在设备树中特殊配置一下该引脚使用gpio模式。

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4. Dout/ Din 联合测试

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如上图所示将Din与Dout连接好,通过改变Dout的输出电平,检测Din是否收到对应的电平,以Din-0和Dout-0为例说明

输入gpioset 0 4=0 gpioget 3 3,显示Din-0的电平应为0

输入gpioset 0 4=1 gpioget 3 3,显示Din-0的电平应为1

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