电流检测问题汇总

常见的电流检测方法有：①霍尔传感器、②电流互感器、③TMR电流传感器、④电阻法、⑤罗氏线圈法。需要注意的共性问题有以下几点

1.量程问题：

       需要考虑电流峰值，根据电流峰值设置量程的上限，一般上限设置为峰值的2倍。量程的选取会影响精度，量程选取过大会降低检测精度，量程选取过小会导致容易触发过流保护。

2.精度问题：

        影响采样精度的两个因素：

①AD的输入电压范围有关

②AD的分辨率

        为保证采样精度，需要选择合适的输入电压范围，并提高AD分辨率是最好的。

3.运放问题

        在电流检测中，运放对信号的处理至关重要，但运放会对精度带来以下问题：

①零漂问题：目前大多数放大电路中的运算放大器均是采用直接耦合的方式。而直接耦合式放大电路的各级的Q点是相互影响的，由于各级的放大作用，第一级的微弱变化，会使输出级产生很大的变化。具体表现为：运放没有输入，输出口有一个微小电压。

②温度问题：温度问题实际上仍是零漂问题，不同温度情况下，运放的零漂严重程度不同。温度也是需要考虑的问题之一。

4.电气隔离问题：

电气隔离可以起到以下两点作用：

①保障设备安全：当电路出现异常、雷击浪涌、高压冲击等伤害，如果负载与前一级进行了电气隔离，可对负载电路起保护作用

②提高电路的抗干扰能力：电气隔离可以去除两个电路之间的接地环路，可以阻断共模、浪涌等干扰信号的传输，可以使系统具有更高的安全性和可靠性。

霍尔传感器、电流互感器、罗氏线圈法、TMR电流传感器法具有天然的隔离特性。

       对于电阻采样法，通常采用隔离运放或者调制器的方法进行电气隔离，具体使用的方法有一下几种：

①线性光耦隔离

②通过采样芯片实现隔离：

a、国产芯片解决方案：纳芯微公司开发的针对高压系统中的电流和电压检测的NSi13xx系列隔离采样芯片；

b、外国芯片解决方案：AVAGO(安华高科技)推出的ACPL-C87BT 采样隔离芯片。

③通过隔离放大器实现隔离(隔离放大电路=运放+线性光耦)。

5.采样延迟问题：

电流采样到驱动开关管，中间存在7个延迟源：

延迟类型

PWM死区时间插入

到预驱的光耦隔离

预驱开关延迟

IGBT开关时间

放大器延迟

低通滤波器延迟

ADC延迟

        这些延迟叠加在一起，会造成以下问题：

①实际输出PWM波形滞后于MCU计算预期输出的PWM波；

②IGBT短路耐受时间只有10us左右，延时的叠加会占用保护时间；

③采样时间窗口问题(电流值波动、开关频率提高、死区和滤波时间都会导致电流采样窗口时间缩短)。

6.干扰问题：

①磁场干扰：这个在霍尔传感器、电流互感器、TMR电流传感器、罗氏线圈法上尤为明显；

②运放差模干扰、共模干扰。

7.CPU识别问题

       电流采样，都需要把电流信号转换成一个正弦电压波，，进而被CPU检测，考虑到CPU的IO口只能识别0~3.3V或0~5V信号，因此需要将电压信号进行调理：包含幅值和正负的调整。

8.三相检测和两相检测

①当电机三相平衡时，两者没有区别。如果采用两相检测进行三相重构时，需要考虑采样窗口问题和高频状态下存在采样盲区问题：

      (三相采样不存在此类问题的原因在于：可以通过扇区确定哪一相的采样窗口小，从而通过Iv+Iu+Iw=0,把采样窗口小的那一相电流重新计算出来)两相采样，就必须直接使用采集出的电流值。为保证采样电流准确，必须保证采样窗口足够大，就需要对PWM发波进行调整。

产生三相不平衡的原因：

⑴输入三相电压不平衡

⑵电动机相间或匝间短路

⑶接线错误

⑷启动器接触不良，使电动机线圈局部断路

三相不平衡对控制性能影响：

        如果三相电压不平衡,电机内就有逆序电流和逆序磁场存在，产生较大的逆序转矩，导致转矩脉动增大。同时由于电机三相电流分配不平衡，使某相绕组电流增大。

对保护的影响：

两相检测可能会导致缺相故障无法检测出来，无法触发过流、过压保护。

9.电阻采样额外需要主要的问题：

       在大功率变频器中，电磁环境复杂，电阻采样不受磁场影响，同时，电阻采样的成本远低于霍尔传感器等采样方案，因此电阻采样应当引起我们的格外注意。

电阻采样法有一下需要注意的问题：

①电阻的选择：

       电阻采样是通过采集采样电阻两端的电压，实现电流信号到电压信号的转换。因此，采样电阻必须足够小（一般不超过1欧姆）、精度足够高（一般在1%以内）、温漂足够小。

同时需要选取无感电阻，避免感抗分压。

②隔离设计：已在电气隔离部分提及。

③电阻测量方法：由于采样电阻非常小，焊料的电阻已经不能忽略，因此焊接后需要对采样电阻阻值重新测量，测量方法通常选用：开尔文接法。