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因此测试方法为：在规定测试温度下将所有IO置于输入状态，分别在VDDmax和VDDmin下验证VIL和VIH。因此测试方法为：在规定温度下将IO口置为输出状态，在VDDmin下验证VOH和VOL。IIH：测试时给IO高电平，可以测得IO口到VSS的漏电流，进而可以计算出阻抗。IIL：测试时给IO口低电平，可以测出VDD到IO口的漏电流，进而计算出阻抗。IOH：IO口输出高电平时的电流大小，可间接得到IO口内阻大小。IOL：IO口输出低电平时的电流大小，可间接得到IO口内阻大小。

关断延迟：在输入信号发生变化的同时输出信号从L、H状态变为Z状态所需要的时间。从H状态变化时是Tphz，从L状态变化时是Tplz。上升时间一般指信号从其电压值上限的10%升到90%所需要的时间，下降时间一般指信号从其电压上限90%降至10%所需要的时间。使能延迟：在输入信号发生变化同时输出信号从Z状态变为H、L状态所需要的时间。上升延迟：在输入信号发生变化同时输出信号从低电平转为高电平所需要的时间。下降延迟：在输入信号发生变化同时输出信号从高电平转为低电平所需的时间。

LM5021功能描述，方便使用