1. VIH、VIL测试
测试方法
主要测量芯片在不同的电压下的电流变化,主要为了确定芯片的最小和最大电源电压范围。
VIL:表示输入管脚正确识别logic0时的最大电压
VIH:表示输入管脚正确识别logic1时的最大电压
因此测试方法为:在规定测试温度下将所有IO置于输入状态,分别在VDDmax和VDDmin下验证VIL和VIH。
2. VOH、VOL测试
测试方法:
测试芯片在一定负载下IO口输出高低电平是否在规定范围内。
VOH:管脚在输出高电平时的最低电压
VOL:管脚在输出低电平时的最高电压
因此测试方法为:在规定温度下将IO口置为输出状态,在VDDmin下验证VOH和VOL。
3. IIL、IIH测试
测试方法:
在规定温度下将IO口置于输入状态,在VDDmax下验证
IIH:测试时给IO高电平,可以测得IO口到VSS的漏电流,进而可以计算出阻抗
IIL:测试时给IO口低电平,可以测出VDD到IO口的漏电流,进而计算出阻抗
4. IOH、IOL测试
测试方法:
在规定温度下将IO口置于输出状态,在VDDmin下
IOH:IO口输出高电平时的电流大小,可间接得到IO口内阻大小
IOL:IO口输出低电平时的电流大小,可间接得到IO口内阻大小