5_信号完整性测量

最新推荐文章于 2024-07-23 10:27:38 发布

朱MK

最新推荐文章于 2024-07-23 10:27:38 发布

阅读量137

点赞数

分类专栏：高速电路PCB设计与EMC技术分析文章标签：硬件工程 pcb工艺射频工程嵌入式硬件

本文链接：https://blog.csdn.net/rerrick_rose/article/details/132136775

版权

高速电路PCB设计与EMC技术分析专栏收录该内容

15 篇文章 2 订阅

订阅专栏

原文见《高速电路PCB设计与EMC技术分析》

5.1 逻辑分析仪

5.1.1 逻辑分析仪的工作原理

逻辑分析仪利用时钟从待测试设备上采集数字信号并以某种形式显示出来，通常只关注的逻辑状态，只显示两个电压，分别对应于逻辑1和0。

逻辑分析仪的工作过程：采集——存储——触发——分析
在这里插入图片描述

5.1.2 采集

采集是指从多引脚器件和总线中捕获数据，两种采集模式：
定时采集模式（也称异步采集模式）和状态采集模式（也称同步采集模式）

定时采集模式捕获待测信号的定时信息；使用分析仪内部时钟；

状态采集模式用来采集待测信号的逻辑状态；不使用内部时钟；

5.1.3 存储

逻辑分析仪中有一个存储结构——实时采集存储器，它是采样数据的目的地，也是分析和显示的源头

实时采集存储器可以视为一个拥有通道宽度和存储深度的矩阵
在这里插入图片描述

存储深度 = 采集时间 × 采样分辨率

逻辑分析仪的采集和存储机制是这样的：逻辑分析仪对数据连续采样，填充实时采集存储器，根据先进先出原则丢弃溢出的数据，直到触发事件发生时，暂停数据采集，在存储器中保留数据以便进一步分析
在这里插入图片描述

5.1.4 触发

触发是指设置条件（通常是异常事件），在满足这些条件时将捕获数据，分析并显示结果
逻辑分析仪可以识别总线或计数器输出上的特定二进制值

触发在存储器中的位置非常灵活，允许捕获和考察触发事件前、触发事件后和触发事件周围发生的事件
在这里插入图片描述

5.1.5 分析

定时分析用于查看捕获的所有信号的时间关系，其在很大程度上与示波器的显示画面类似。

状态分析即逻辑分析，它捕获总线中的一个数据片段，以列表的形式显示出来。

探头在逻辑分析仪的使用中值得格外关注，探头的高速响应严重影响测量的准确性。

5.2 示波器

逻辑分析仪关注的是信号的定时特性和逻辑状态特性，而示波器关注的是信号的模拟细节

5.2.1 模拟示波器和数字示波器

数字存储示波器是低重复率事件（或者是瞬态现象）、高速、多通道设计应用的完美工具。

数字荧光示波器的典型应用有：通信模板测试，中断信号的数字调试，数字设计中的定时分析。

5.2.2 示波器的各个系统和控制

当频率范围为不足示波器最大采样速率一半的信号时，采用实时采样是比较理想的；
实时采样是为数字示波器采集快速、单脉冲和瞬态信号的唯一方式如果信号频率大于示波器采样频率的一半，这些信号就能被等效时间采样精确捕获。
在这里插入图片描述

连续和随机是等效时间采样的两种方式，它们分别有各自的优势。前者提供更高精度与时间分辨率。后者不需要延迟线，它允许输入信号先于触发点显示。两者的相同之处在于，要求输入信号具有重复性。
在这里插入图片描述

高速数字信号测量中常用的触发方式在这里插入图片描述

5.2.3 示波器的关键指标

信号的边沿含有比信号本身重复频率高得多高频分量。

示波器带宽是指输入正弦波信号的幅度被衰减到正常值的0.707倍时所对应的信号频率，即3dB带宽。

示波器带宽 ≥ 待测信号最高频率分量 × 5
示波器上升时间 ≤ 待测信号最快上升时间 ÷ 5

测量上升时间
在这里插入图片描述

在现实中，准确地重建的一个信号，取决于采样率和插值算法。示波器提供了正弦内插法或线性内插法。对于两种插值算法，示波器的采样率应满足如下条件。
● 正弦内插：示波器采集率＞2.5×被测信号最高频率分量；
● 线性内插：示波器采集率＞10×被测信号最高频率分量。

记录长度是指示波器单次采集时能够存储数据样点的数目
在这里插入图片描述

5.3 时域反射仪和阻抗测量

测量阻抗和链路损耗的理想工具是时域反射计（TDR）。就像在时域分析信号完整性的问题一样，TDR在时域分析信号传输链路的特性。

TDR向被测路径发出了一个快沿脉冲，通过脉冲在实际路径中传输所产生的反射电压来计算路径中各点的特性阻抗。
在这里插入图片描述

TDR测量结果是反射电压，反射电压的增大或减小是由传输线阻抗的增大或减小引起的，或者由不连续点的感性或者容性变化引起的。

时域反射仪测量从信号沿走线、电缆或连接器时所产生的发射电压。波形将沿着走线显示信号路径阻抗的变化

图中的反射波形是由走线上不同的器件或元素引起的，过孔、连接器等都会将入射的快沿信号反射回源端。理想的链路应该有良好的端接，而且没有任何的信号反射。
在这里插入图片描述

越快的入射波上升时间具有越精确的阻抗分辨能力。

真正的差分TDR测量需要能够同时发射互补的差分阶跃脉冲。

● 通道数：一些系统的设计要求多通道TDR测试。例如，多通道差分总线需要测量的几个差分对的阻抗特性。而像串扰测试，需要同时连接至少两个差分通道。因此在选择测量系统时，通道数应该考虑进去。
● 上升时间：走线上两个阻抗不连续的点之间的间隔和信号传播速度共同决定了TDR波形上两个反射点时间距离。为了区分靠的很近的两个阻抗不连续点，要求入射波上升时间小于两个阻抗不连续点间的信号传播时间的两倍。因此，越快的上升时间具有越精确的阻抗分辨能力。
● 阶跃信号质量：TDR仪器产生的阶跃信号质量是非常关键的，特别是在测试比较短的走线。阶跃脉冲必须有很快的上升时间，准确的幅度以及不能有任何的波形畸变。
● 差分TDR测量能力：现今许多高速串行标准利用互补的信号进行差分传输。两条PCB走线会同时承载信号的镜像。虽然它的单端布线要复杂得多，但差分传输更不容易受到外来的影响，像串扰噪声。差分路径需要差分的TDR测量仪器。TDR入射脉冲必须同时向差分对发送，并测量其反射电压。真正的差分测量，使得DUT（待测器件）接受到差分信号的激励，正像在实际环境中那样，获得真实走线阻抗情况。真正的差分TDR测量需要能够同时发射互补的差分阶跃脉冲

TDR提供了重要的阻抗不连续信息，它可以揭示潜在的信号完整性问题。

原文见《高速电路PCB设计与EMC技术分析》