一种测试方法论RST(非广告)

背景:一年多前还在做测试查资料时找到过这个网站,但当时任务紧急,没有时间细究,就拉到浏览器的收藏夹里待有时间看。然后一方面工作忙,以及拖延症的关系,这个“有时间”直到一年多后的今天才变为可能。鉴于近期转岗,短期内将很少从事测试工作,于是赶紧粗粗看了一下,将私藏分享,万一埋没对别人有用的信息就可惜了。

RST=Rapid Software Testing( RST官网,以下内容均提取于官网,翻译为基于自己的理解,可能有所不当,还以官网为正)是一套基于上下文驱动(Context-Driven)的软件测试方法论,即重视不同情景的应对,而不是拿最佳实践去作为万金油,创造者在测试领域已有30余年,曾就职于苹果、Borland等公司,现成立了一家主营测试咨询、培训业务的公司,旨在指导解决软件测试及风险分析的问题,授人以渔。

基本观点有:

  1. 对份内工作能完全把控,不能没搞明白就开始测试,如果不懂,则弄到懂为止;
  2. 不要做没有意义的事情,已经意识到的是浪费时间的事情一定要立即停止;
  3. 持以探索及试验精神,高效率地做好测试是基于你对目标产品的深刻理解,不要仅限于读需求或以往的用例;
  4. 关注产品风险,测试的深度取决于产品的潜在风险大小,即能够把握住合适的测试量;
  5. 使用轻量、灵活的方法论指导工作,即指用RST,RST包含多个方法论模型引导测试变得规范化;
  6. 强调用最简洁的文档格式来记录解决问题,认为文档够用就好,不要大而全,敏捷的做法;
  7. 使用工具辅助测试,测试者不会写代码至少要会用工具,在各个测试阶段都用好工具;
  8. 善于展示测试价值,将测试工作的价值快速地呈现给客户及其他团队成员,获得他们的认可,说明时间是被正确利用的,相对地提升了测试效率;
  9. 不断增强技能,扩大知识面,掌握更多的技能有助于在决策时快速选择合适的测试方法

RST的Roadmap
Roadmap
RST在敏捷和Devops的融合
RST在敏捷和Devops的融合
更多内容见官网。

  • 0
    点赞
  • 4
    收藏
    觉得还不错? 一键收藏
  • 0
    评论
内存测试工具RSTPRO3USBIMG u盘启动版 最高16G.准备度95%-98%.重启U盘启动测试。 1:打开WinHex 2:工具-磁盘工具-克隆磁盘 3:来源选中RSTPRO3USB.img,目标选中u盘 4:点确定 5:重起电脑 注意:U盘会给清空。 现在网出出现的(硬盘版,光盘版)是本店定制出来的演示版不能修理内存,测试有区粒的内存就会立即死机或不能启动软件,因为新版核心是linux格式文件读取方式,请大家赠买前注意避免拍后不能用才后悔     软件名称】:RST PRO3 USB    RST Pro3 是RST的第5代产品符合JEDEC工业测试标准,可方便使用于台式机,笔记本,服务器主机USB插座上即插即用, USB版具有自我开机系统,支援DDR2  DDR3 Intel最新Chipset。 【软件特点】:   (1).兼容性强支持第1代/2代/3代内存(即DDR/DDR2/DDR3),支持最高64G容量。  笔记本及台式机内存通吃。   (2).软件无需Win和DOS系统的支持,U盘插入USB接口后, 在主板BIOS中设置U盘启动即可进入软件检测界面。   (3).不需要专业知识,一看就会.快速找出坏芯片坏内存只要能使机子启动不管能不能进系统均可测到是哪颗内存颗粒损坏。        是普通电脑人员均可使用的工具软件。   (4).尤其推荐电脑维修专业人员使用。   (5).此软件检测准确率高,品质佳,能检出Win系统蓝屏、白屏、死机等由内存引起的故障。 【支持主板】:   ┝DDR1 :intel 845/865/915系列;   ┝DDR2 :intel 915/945/P965/P35/P45/等全系列主板。   ┝DDR3 :intel P45,X48,X58,P55,H55(+i3/i5/i7 CPU)   ┝其它nVidia,VIA,SIS,AMD架构平台同时支持,几乎兼容所有NB/MB主板。 【注意事项】:   (1).要求最好用独立显卡主板,如果使用集成显卡,由于有 几兆内存会划给显存所以不能全测到。   (2).检测过程中,软件会回写信息资料,请勿检测过程中拔出。   (3).本软件可选版本IDE,SATA,电子盘,U盘,网络PXE,版定制。  (4).有条件尽量使用频率高的CPU进行测试,可以加快测试速度,节约成本提高你的出货量。   1。纠正:R.S.T Pro3不支持如2G 16颗芯片的内存,前1G代表正面,后1G代表背面的判别逻辑. 2。RST系列软件虽然不支持此上述判别逻辑,但我们可以通过刷写SPD方法,来区分是正面还是反面: 当检测到双面坏位时,将内存烧录一半的容量(此时背面会屏蔽掉,等于没有) 再测试,如果OK了,说明是背面对应的颗粒坏了;反之则正面。
RAM Stress Test(RST)内存测试软件使用指南 近日比较关注内存的检测问题,找到了名为“RAM Stress Test”的软件(简称“R. S. T.)。但是下载下来,只有区区的2M多,并且是nero格式的文件,这么小的文件能检测内存吗?于是在Google上查找相关说明,经过跋山涉水,终于找到一片,但是很不幸,在一家被挡在墙外的网站上,也就只好半转载、半理解得写出了这一篇使用说明。 先看软件介绍。这个可以从网络上搜索。例如,它是一个独立开发的系统,没有依附任何操作系统,相容于x86系列,只要BIOS认的到的容量都能测。也有人写道,是什么专业测试软件,很贵(500美元)等等,其实只需要知道能测试内存好坏就可以了。 DDR测试软件简要说明书 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 第1颗粒 第2颗粒 第3颗粒 第4颗粒 第5颗粒 第6颗粒 第7颗粒 第8颗粒 如以上的示范图: 闪动的代表8颗粒的区域 横着数0-7带表第一颗区域8-F代表第二颗区域,0-7带表第三颗区域,8-F代表第四颗区域 依次带表8颗颗粒的内存条. ⒈DDR8位与16位的单面测法: 注意:DDR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8 ⑴.0-7(第1颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第一颗粒已经损坏 ⑵. 8-F(第2颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第二颗粒已经损坏 ⑶. 0-7(第3颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第三颗粒已经损坏 ⑷.8-F(第4颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第四颗粒已经损坏 ⑸. 0-7(第5颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第五颗粒已经损坏 ⑹. 8-F(第6颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第六颗粒已经损坏 ⑺. 0-7(第7颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第七颗粒已经损坏 ⑻. 8-F(第8颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第八颗粒已经损坏 ⒉如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图: 1-16M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------ 16-32M ------------------------------------------------------------------------------------------------------- 32-48M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------ 48-64M------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 从1M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,代表这跟内存的的第一面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明) 64-80M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------ 80-96M ------------------------------------------------------------------------------------------------------- 96-112M------------------------------------------------------------------------------------------------------------ 112-128M---------------------------------------------------------------------------------------------------------- 从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,代表这跟内存的的第二面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明) 注意:在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面93与184的代表第二面,1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用. ⒊SD的8位与16位的单面测法: 注意:SD的颗粒排列循序是8-4-7-3-6-2-5-1 ⑴.0-7(第1颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏 ⑵. 8-F(第2颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏 ⑶. 0-7(第3颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏 ⑷.8-F(第4颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏 ⑸. 0-7(第5颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏 ⑹. 8-F(第6颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏 ⑺. 0-7(第7颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏 ⑻. 8-F(第8颗粒)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏 4.通过以上的说明SD的双面是跟DDR的是一样的但是颗粒的好坏判断要按照 他们的排列循序来判断的. 5.PCB板的短路或者虚焊的测法:在以8根虚线上都出现乱码代表这根内存的PCB板有问题. 6.不点亮内存的测试方法:很多内存短路和颗粒损坏后都不能点亮,不点亮的可以用. 一根好的内存去带动他.必须SD的带SD的.DDR的带DDR的.内存软件会自动跳过好的那根去检测坏的那条. 7.使用方法:直接把软盘插入软驱,在主板的CMOS里设置软驱起动,起动后本软件会自动引导到测试界面进行检测
评论
添加红包

请填写红包祝福语或标题

红包个数最小为10个

红包金额最低5元

当前余额3.43前往充值 >
需支付:10.00
成就一亿技术人!
领取后你会自动成为博主和红包主的粉丝 规则
hope_wisdom
发出的红包
实付
使用余额支付
点击重新获取
扫码支付
钱包余额 0

抵扣说明:

1.余额是钱包充值的虚拟货币,按照1:1的比例进行支付金额的抵扣。
2.余额无法直接购买下载,可以购买VIP、付费专栏及课程。

余额充值