蓝桥-BASIC-23 芯片测试

 基础练习 芯片测试  

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

题目说过好芯片比坏芯片多,那么若某一序列出现次数最多,其对应的芯片必然是好芯片

#include<iostream>
#include<cstdio>
#include<cstring> 
using namespace std;
int main()
{
	int n,Max=0,Max_i=0;
	int num[30]={0};
	char an[30][100]={0};
	scanf("%d",&n);
	getchar();
	for(int i=0;i<n;i++)
	{
		gets(an[i]);
		for(int j=0;j<i;j++)
		{
			if(strcmp(an[i],an[j])==0)
			{
				num[i]++;
				if(num[i]>Max)
				{
					Max=num[i];
					Max_i=i;
				}
				break;
			}
		}
	}
	for(int i=0;i<n;i++)
	{
		if(strcmp(an[i],an[Max_i])==0)
		{
			printf("%d ",i+1);
		}
	}
	return 0;
}