弱划痕检测-《Weak scratch detection and defect classification methods for a largeaperture optical element》

 

 1.引言

       好久不写CSDN，感觉都要荒废了（虽然本来也不怎么样哈哈。。。。），最近看了一篇论文《Weak scratch detection and defect classification methods for a largeaperture optical element》，光学元件的弱划痕检测一直是一个热门的问题，对于精细的光学元件任何一个细微的划痕都会对检测结构有很大影响，相比之下人眼对于这种弱划痕的识别很轻松，但是计算机对此的识别相对来说较为困难，此论文通过一些列的方法实现了如划痕检测的效果。

 

2.粗检测

       如下图所示，左侧（a）为光学元件的两条划痕，右侧（b）是将划痕图像转化为dark-field图像的结果，发现弱划痕与背景图像没有明显的差别。

        如果使用阈值对原始图像进行二值化会出现一下两种情况，（a）阈值过小，会引入背景噪声并且出现大面积非平衡光照隐藏弱划痕的位置；相反的如果阈值过高又会出现（b）的情况，漏检测出轻微的划痕，例如图像中左侧的轻微划痕。