本文探讨了汽车IC的测试过程，尤其是混合信号汽车IC的缺陷和电子故障来源。汽车IC制造商致力于减少缺陷率，优化测试以降低成本。通过使用故障覆盖模拟器等技术，可以删除冗余测试，提高测试效率，同时确保产品质量。这些方法不仅有助于提高产量，还能提供系统内自检功能，以增强汽车的可靠性。
我研究了汽车IC的产品定义过程，使用微控制器市场作为设计探索的一个例子来优化性能，特性，芯片尺寸和产品成本。这个过程的后端呢?在定义了功能集并确定了软件策略的同时，软件工具和中间件，这些IC的最终测试呢?
混合信号汽车IC中的缺陷和电子故障来源。几乎每一辆你今天在路上看到的车辆，除非你有经典之作，否则包括你自己的车辆，都有一个微控制器负责制动系统。另一个是管理电动助力转向系统中复杂的电机控制算法。等等。这些不是你想要的功能，所以当测试电子元件时，他们有资格成为汽车级的，即生活在零缺陷性能的世界。
正如任何汽车工程师告诉你的，零缺陷被认为是一个旅程，汽车IC公司必须展示他们在这个使命上的位置，以及他们正在做什么来不断提高质量，加快故障分析和诊断。这导致失败率从百万分之一降到了十亿分之几。
所有主要的汽车集成电路制造商都有真正令人印象深刻的质量改进和减少缺陷策略，在几十年的设计和测试经验中提高了其能力，是一个引人入胜的创新领域。如果你觉得“我的角色只有在出现问题的时候才会注意到”，那么花时间与汽车IC测试工程师一起&#x
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