用频谱仪测量晶体频率的方法

摘要：用频谱仪测量晶体的时钟频率，查看时钟的频偏。

关键字：频谱仪晶体频率频偏

一、            背景与现象

怎样精确的测量晶体的时钟频率？是每一个硬件工程师所面临测量问题。用频率计测试晶体频率，又担心探头本身的寄生电容会影响晶体本身的负载电容，造成测试的晶体频率发生偏移，测量结果与实际的晶体震荡频率存在一定的偏差。所以不得不对测试探头有严格要求，要求带宽越宽越好，寄生电容越小越好。

而用频谱仪测量，因为是测量的晶体的外壳，所以不会对晶体的负载电容有任何影响，所以测的的频率相对精度较高。

二、            测试分析

测试用具：频谱仪一台，示波器探头(一般选取100MHz以上的示波器探头)

测试方法：

1、  首先确保晶体的外壳没有接地；

2、  所测晶体正常工作后，用示波器探头测量晶体的外壳，并就近取地；

3、  用频谱仪MARKER功能读取测量的频率。

该方法主要是利用晶体产生的信号一般是一个正弦曲线，正弦函数的频谱是一根谱线，在频谱仪上显示为一个单载波的形式，可以用MARKER功能读取出来。

测量步骤：

1、  首先打开电源，使晶体和频谱仪正常工作一段时间后，再进行下一步测量；

2、  在频谱仪面板上设置频率参数：Frequency→中心频率，设置中频频率为所要测试的晶体频率。

3、