一致性分析_PDP驱动电路一致性分析

本文详细分析了PDP驱动电路中的一致性问题,重点关注了ramp-up和ramp-down电路。通过实例探讨了二极管替换和电阻值变化如何影响电路性能,特别是东芝3905与BLV16N50 MOSFET管之间的差异。文中指出,MOS管和外围元件参数的微小差异可能导致显著的电路不一致性,影响屏放电效果和调试准确性。
摘要由CSDN通过智能技术生成

电路一致性研究范围的选择:可以经济的调整的波形参数不列入电路一致性。只能一个一个的调整或者必须更改电路或器件的波形参数纳入电路一致性研究。

由上表可知,由于电路元器件自身参数原因而影响电路一致性以及在生产过程中不可调的因数如下:

3.1、ramp-up电路一致性分析

R/U拐点(案例:D410由二极管变成0欧R/U拐点变圆,小斜波变弯导致误放电)

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图二、2.5代 RAMP UP 电路原理图

在2.5代Y板中,采用RAMP-UP器件和SUSH器件共用的方式,RAMPUP功率器件在开动时Q410驱动电压电流如图二中①号线所示。在关断时电压电流流向如②号线所示。当D410由二极管变成0欧电阻后,关断时电压电流少了一个0.7V的管压降,导致ramp-up 的MOS管关断状态不一致。加上Q410(MOSFET管)器件参数细微变化,最终在波形表现是子场复位上斜波的拐点变圆,斜线变弯。

如图三所示,在3代Y板设计中,没有采用RAMP-UP器件和SUSH器件共用的方式。电路不需要D410这种二极管。从而在根本上规避了这个问题,并在一定程度上减少了分离器件数量,同时也增加了电路的驱动能力,降低了IGBT失效率。目前3代产品已经从电路原理上根本改善了R/U拐点(问题)。

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