本文介绍了如何快速判断运算放大器（运放）电路的稳定性，包括时域和频域两种方法。时域方法是通过观察输入阶跃或方波信号后的输出过冲百分比；频域方法则分析增益尖峰。过冲和增益尖峰与相位裕度相关，过冲大或增益尖峰高说明相位裕度低。在测试时要注意避免滤波电路影响，并正确设置观察点。TI提供了Analog Engineer’s Calculator软件进行相位裕度计算。
今年事比较多，所以公众号更新不勤。前阵子，终于二胎卸货，开始休产假，再加上有月嫂帮忙，比较闲。所以我就过来更新一篇，哈哈。
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运放电路如果设计不当，也会出现稳定性的问题。那在仿真设计过程中，该如何快速判断运放电路的稳定性呢？
在TI网站上，介绍了通过间接测试相位裕度的方法来判断运放的稳定性【1】。
方法有两种，分别对应时域和频域。
时域方法：
给运放电路的输入端，灌入一个阶跃或者方波信号，然后看输出端过冲百分比。
频域方法：
分析运放电路的频域幅度响应，测量其增益尖峰。
过冲百分比和频域增益尖峰的幅度，与运放电路的相位裕度直接相关。过冲越大或者增益尖峰越大，则电路的相位裕度越低。
需要注意的是，在测量或者仿真过程中，有时候需要对电路进行调整，如下图所示。
具体是：
(1) 输入端不能有滤波电路。因为滤波电路，可能会滤除阶跃信号或方波信号的高频分量，影响测试结果。
(2) 观察点需要在放大器直接输出端，但是实际负载还需要加上。
那怎么把过冲或者增益尖峰换算成相位裕度呢？
TI的Analog Engineer’s Calculator软件上的有对应计算。
PPT及软件下载，可回复消息：软件和PPT
或者去TI官网下载
【1】 stability-4 TI Precision Labs-Op Amps
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