Q: 在使用矢量网络分析仪测量被测器件(DUT)时,如输入阻抗约为3欧姆(在2 MHz时),阻抗和回波损耗(S11)测量的不确定性是多少?在这种情况下,阻抗分析仪是否要优于矢量网络分析仪?
A:对于低频和阻抗应用,与使用反射法的矢量网络分析仪(VNA)相比,使用I-V技术的阻抗分析仪能得到更精确的测量结果。常用判定准则是在系统特性阻抗Z0的10倍(或1/10)阻抗范围内,矢量网络分析仪通常能提供足够精度的结果。例如对于Z0= 50Ω的阻抗范围是5Ω至500Ω。但为得到最佳测量精度,DUT阻抗相对Z0的变化应不大于3-5Ω。
ENA 矢量网络分析仪,5 Hz 至 53 GHzwww.keysight.com![1e0e0b4938f084fc7e095828c54b17a8.png](https://i-blog.csdnimg.cn/blog_migrate/00c80bbcf27facbe72c65fd5b687ea1b.jpeg)
被测器件(DUT) 特性
ZL= 3 Ω (注意: 假定为二端口器件)
反射系数 , r = [ZL - Z0]/[ ZL + Z0] = -47/53 = -0.887 (~ -0.9)
注意: 负号说明相位特性极象是短路。
S11/回波损耗 (RL) = 1.04 dB
SWR = 16.7 :1
插入损耗:未知/未规定
从它的反射(幅度)不确定度曲线(一端口校准),0.9(线性)S11 (r ) 的 DU