保存光谱曲线出现问题_瞬态荧光&时间分辨荧光光谱

1瞬态荧光：

    有别于稳态荧光，瞬态荧光主要通过脉冲光源、快速探测器获取样品由激发态回迁到稳态的弛豫时间，通俗的说就是样品的寿命。但在光路上基本与稳态荧光是一致的。

    根据样品本身的不同特性其寿命分布可以从飞秒，皮秒，纳秒，甚至到微秒量级。同时，针对不同的样品寿命，测试方法也会随之改变，相对应的测试方法有荧光上转换(Up-conversion)，时间相关单光子计数(Time-Correlated Single Photon Counting)，多通道扫描(Multiple Channel Scan)等。

2瞬态荧光的获取方法：

•荧光上转换(Up-conversion)

    测试范围由fS-nS，光路核心部件光延迟线，提供fs量级的时间延迟，为系统测试提供时间精度保障。经过延迟线延迟的fs脉冲与经过倍频fs激光激发样品后产生的荧光进入混频器，产生波长大于样品荧光的的混频光。

    样品的荧光寿命衰减曲线的时间轴由光延迟光路保证(分辨率和扫描宽度)，而荧光强度由混频器后面的数据采集系统提供。这样的设计，将传统意义对快速探测器、高速电路的在时间响应和分辨率上的要求转而由相对容易实现光路延迟来完成(1ns光程=0.3m，1ps光程=0.3mm)，而百微米的机械移动实现起来相对容易很多；从而轻松达到ps，甚至十几fs的时间分辨率。

•时间相关单光子计数(Time-Correlated Single Photon Counting)