无论是对DDR或LPDDR存储器进行调试还是进行一致性测试,都需要首先将读和写操作分离开,以对每种不同的操作模式分别进行测量。
数据(DQ)信号和数据选通信号(DQS)之间的相位关系指示了读写操作的类型,如下图所示。
在读取模式下,DQ和DQS信号边沿重叠,相位对齐,在写入模式下,它们异相,并且DQS边沿与DQ眼图的中心重叠。在低速的DDR存储器中,测量仪器可以利用这个相位差异触发信号,从而分离出所需的操作模式。
但是,对于速率更快的DDR芯片(例如DDR4和DDR5),利用这种相位差来分离读写并不容易。更高的传输速度对应的是更短的时钟周期,这使相位触发技术的可靠性降低。而且,LPDDR接口往往有很多反射,这可能会使测量结果更加混乱,如下图所示。
图中的LPDDR测量显示由于反射将相位移至DQ写眼图的中心,导致将Read事件误识别为Write事件,在基于DQS信号相对于DQ信号的相位确定工作模式时,很可能会发生这样的错误。
分离读取和写入操作的最可靠方法是使用DDR命令总线,这要求高带宽示波器具有同时采集模拟和数字信号的能力。力科DDR测试解决方案将WaveMaster或LabMaster示波器与力科HDA125高速数字分析仪和DH系列高带宽探头配合使用,以实现高速混合信号采集分析。HDA125可以12.5GS/s采样率提供最多18通道数字输入,它的3 GHz带宽前端可以捕获时钟频率高达6 GB/s的数字信号。
HDA125数字前端连接到DDR命令总线信号的中的CS-n、WE_n、RAS_n、CAS-n和时钟线。
然后,可以使用DDR Debug Toolkit软件在复合总线视图中将模拟信号和数字信号同时显示在示波器上,如上图所示,这个总线视图是DDR Burst的完整视图,包括数据、选通脉冲和命令总线。DDR调试工具包根据DDR命令总线信号将读取和写入操作分开,并用不同颜色清楚地标记它们-红色表示写入操作,蓝色表示读取操作。彩色覆盖层同时出现在模拟信号和命令总线数字信号上,显示了它们之间的关系。
同时会对命令总线进行解码,其解码内容汇总显示在栅格下方的表格中,该表格显示了每个脉冲串的时序,脉冲串长度和命令状态,基于命令总线状态触发,而不是模拟信号相位差。
力科的QualiPHY DDR一致性测试套件也支持使用HDA125所采集的命令总线进行读/写分离,可以更加准确的协助您测试DDR是否符合JEDEC规范。