halcon测量两条线距离_使用同轴照明改善双目线扫3D测量

原标题：使用同轴照明改善双目线扫3D测量

图1：相机

尽管同轴明场照明在3D测量应用中具有显着优势，但重要的是要考虑工作距离和图像质量之间的权衡。

选择正确的照明对于获取计算3D数据所需的高质量图像至关重要。这通常是通过定向同轴明亮场照明或日光灯完成的。本文使用各种样本，根据彩色图像质量和高度图比较了这两种照明方法。

可以证明，对于表现出大量次表面散射的材料，同轴照明几何形状有利于3D测量。在实践中，应记住，在光路中引入分束器会导致相机系统的工作距离发生偏移，并且图像质量会稍有下降。

图2：管灯照明(左)和同轴明场照明(右)的示意图。

将源光线从平面样本直接反射到相机中的照明方案称为明场。对于线扫描相机，有两种可能的方法来实现这种设置：通过倾斜相机和光源，使相对于表面法线的角度相同但方向相反，或者使用分束器。不建议使用第一种方法，因为它可能导致遮挡和梯形失真效果。

图1显示了使用分束器的同轴明亮场照明设置的原