硬件失效分析(FA)笔记

这篇笔记详细介绍了硬件失效分析(FA)的过程,包括使用5W原则收集信息、组建FA小组、建立FTA故障树、测试验证及优化方案制定。通过8D报告记录根因并预防未来问题的发生。

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做过项目的硬件工程师都会被FA时不时折磨的熬夜大肝,以下仅是个人在这两年内的一些总结、心得,大神勿喷。

本篇仅作为FA方法论的架构展示,具体细节,后续慢慢补充;

FA方法:

1、收集失效发生时内容以及前端初步分析结论,5W原则(what?where?when?who?why?);

 2、成立FA小组,应包含:底层软件、应用层软件、硬件、工艺、结构(线束、箱体等)及其他相关工程师;

3、建立FTA故障树,并联合组内成员开会讨论,进行初步排查,确认可能失效原因的排查&验证方案,输出到对应的测试工程师或供应商进行测试验证,为了效率最好责任到人,责任到具体时间;

4、整理初步分析的测试数据,组会讨论,如确认异常原因,则由责任人输出优化方案和改正时间;如仍未定位根本原因,则继续第三步讨论分析;

5、问题解决后,输出完整8D报告,记录FA根因,并在设计生产阶段增加对应的解决措施;

以上。

注释:

1.5W1H分析法:5W1H分析法_百度百科 (baidu.com)

2.FTA故障树:故障树分析法_百度百科 (baidu.com)

3.8D报告:(4 封私信 / 8 条消息) 什么是8d报告? - 知乎 (zhihu.com)

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