什么是FA,FA的作用,过程,失效现象分析及FA分析结果要点总结

FA(Failure Analysis)是针对电子元器件失效的分析方法,用于确定失效原因和改进设计。它涉及元器件设计改良、硬件设计改良、责任判定和品牌价值提升。FA过程包括失效现象、失效机理和原因的分析。失效现象分析包括外形、电性能和材料成分特征。FA结果用于判定失效原因和责任,如元器件自身缺陷、使用不当等,以及材料、元器件、PCBA组件、整机、系统和使用缺陷的责任划分。

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1,什么是FA

    FA(Failure Analysis)是指元器件的失效分析,是指在元器件失效后通过,物理,化学等分析手段,找出元器件的损坏的地方,及失效的原因的实验分析方法。


2,FA的作用


2.1,元器件设计改良

    首先FA分析可以对元器件的设计,工艺,制造等流程提供改进的方向,是产品可靠性设计的重要依据。
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