fpga的jtag接口扫不到器件_JTAG和JTAG链，JTAG边界扫描

1、JTAG

JTAG(Joint Test Action Group；联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议(IEEE 1149.1兼容)，主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。

具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义：

TCK——测试时钟输入；

TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；

TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；

TMS——测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。

可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。

JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP(Test Access Port；测试访问口)通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。

2、JTAG链(菊花链)

JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。

多个器件的硬件连接成菊花链结构，连接JTAG接口TDO的器件为菊花链上的第一个器件，连接JTAG接口TDI的器件为菊花链上的最后一个器件。前一个器件的TDI和后一个器件的TDO连接在一起，菊花链上所有ARM器件的TMS、TCK信号连接在一起。

3、JTAG边界扫描

扫描链

在J TA G调试当中，边界扫描Boundary-S