HALCON联合C#检测表面缺陷——仿射变换(三)

本文档介绍如何在C#的WinForm应用中结合HALCON进行仿射变换,以适应不同的检测场景。在旋转矩阵基础上添加偏移矩阵,简化了操作流程。通过示例代码展示从相机取图、模板匹配到旋转检测区域的步骤,最终实现对表面缺陷的检测。检测流程包括:相机取图、模板匹配、仿射变换、算法检测、结果输出、数据通信和报表更新,适合在WinForm环境中集成视觉检测功能。
摘要由CSDN通过智能技术生成

这个系列的专栏不是直接给代码的,这点我需要声明一下,主要是提供搭建视觉检测软件的思路,告诉大家如何编程,如何实现检测,文章中涉及的代码不是唯一的,只是示例,大家可以举一反三。

上一篇讨论了旋转矩阵,这一篇我们在旋转矩阵的基础上添加偏移矩阵。

但是这样一步一的使用矩阵是有点麻烦的,所以今天介绍一个能够同时完成旋转和偏移的函数

Row1,Column1,Angle1是初始坐标和角度

Row2,Column2,Angle2是需要旋转到的坐标和角度

所以修改代码如下

运行测试

 

检测区域随着模板的位置和角度发生了变化

做到这里我们再来做检测就很简单了,只要处理检测区域的内容就可以了,

我们再来看下检测流程

1.相机取图

2.模板匹配

3.旋转检测区域

4.调用算法检测区域内的脏污或者测量尺寸

5.输出NG或者OK

6.采用通信或者IO输出结果和数据

7.更新报表

7.控制运动系统动作等

上面的流程是我们都可以再winform中实现。

这里我是在手动选择图片中加入的代码,大家可以直接复制到对应的相机回调函数中即可。

我们之前写了一个检测方法,下一篇我们把检测方法再放进来。。。。。。。。

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