tracepro杂散光分析例子_光学系统的杂散光分析指引

本文介绍了光学系统中杂散光的定义、重要性、理论基础和分析方法。强调了杂散光对成像系统的影响,并探讨了消除杂散光的策略,如移动、阻挡、表面处理和清洁。提到了常用分析软件TracePro的特点,并分享了分析流程和优化技巧,旨在帮助光学专业人员进行有效的杂散光分析。
摘要由CSDN通过智能技术生成

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一、概述

杂散光定义

光学系统中,针对成像光学系统,任何非希望但经过传播后到达探测器面的光线为杂散光;针对非成像光学系统,任何成像或其它非预期的光线传播形成的光斑等为杂散光。

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图1 典型杂散光图像

光学设计中,杂散光分析是非常重要的环节。对于成像系统,即使设计像质良好,加工公差宽松,如果杂散光达到影响成像质量,则之前的工作就属于徒劳。某种意义上,杂散光对于光学系统有一票否决的作用。正因为如此,在光学设计的整个过程,杂散光应该是要持续关注的内容。同时,杂散光无法完全消除,只能一定程度上抑制,只要杂散光不影响成像质量,或者说其影响在可接受或可允许的条件下,即视为完成杂散光抑制工作。

总之,一个优秀的光学设计系统,杂散光是必须要考量的因素。

二、理论基础

2.1 杂散光分析中设计的光学知识包括如下(具体内容参见光学教材)

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