题目
问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例
输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
输出
1 3
分析
首先解读一题目,要知道这道题的目的是什么,简单的说就是要找出好的芯片的编号,样例中的二维数组的含义:i(横坐标)j(纵坐标),a[i],[j]如果值为1代表芯片i对芯片j的测试结果为好芯片,反之为坏芯片。再来考虑一下芯片测试的规则,好芯片测试好芯片结果一定是好芯片,好芯片测试坏芯片结果一定是坏芯片,坏芯片测试所有芯片结果都是随机的(可能是好也可能是坏).题目中表明好芯片比坏