欠采样，过采样，上采样，下采样，以及目标检测中的上采样和下采样

1.欠采样亦称“’下采样”，过采样亦称“上采样”，欠采样基去除一些反例使得正反例数目接近，然后再学习。过采样即增加一些正例使得正反例数目接近，然后再学习。（《机器学习》）
2.在目标检测任务中，上采样和下采样又有了不同的定义。
上采样的目的是减少感受野，一般用来检测小物体，方法是采用高分辨率的图片。下采样的目的是增大感受野，用来检测大物体，方法是采用低分辨率的图片。