/问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为nn的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3*/
思路:因为第 i 行第 j 列表示第 i 块芯片测试第 j 列芯片是的测试结果,所以第 j 列表示的是第 j 块的测试结果
因为好芯片比坏芯片多,所以正确的好的结果比坏的多,所以当好的数量>坏的数量时,该芯片就是好芯片
#include<iostream>
#include<cstring>
using namespace std;
int main()
{
int n;
cin>>n;
int a[n][n];
for(int i=0;i<n;i++)
{
for(int j=0;j<n;j++)
cin>>a[i][j];
}
int good[n];
memset(good,0,sizeof(good));
for(int i=0;i<n;i++)
{
for(int j=0;j<n;j++)
{
if(a[i][j]==1)
good[j]+=1;
else
good[j]-=1;
}
}
for(int i=0;i<n;i++)
{
if(good[i]>0)
cout<<i+1<<' ';
}
return 0;
}