记录一次S32K14X调试进入Harldfault原因

weixin_42266961

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文章标签： c语言 stm32

于 2024-02-03 10:41:07 首次发布

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记录一次S32K14X调试进入Harldfault原因

S32DS环境下 S32K14X程序中如果设置 INT_SYS_EnableIRQ(HardFault_IRQn);
则程序debug时候就会跳转到HardFault函数。
在这里插入图片描述

1、定位到库函数INT_SYS_EnableIRQ()内
“ S32_NVIC->ISER[(uint32_t)(irqNumber) >> 5U] = (uint32_t)(1UL << ((uint32_t)(irqNumber) & (uint32_t)0x1FU));”
此语句;
在这里插入图片描述
2、此语句左右部分反汇编均正确，但是当右边赋值给左边时候程序出错进入HardFault
3、进入HardFault后查看HardFault出错信息寄存器[S32_SCB->CFSR]]打印的是"0x8200"

4、查找《Cortex M3与M4权威指南》可知表明出现的是精确的数据访问错误

在这里插入图片描述

5、查找S32_SCB->BFAR寄存器存放的是精确的数据访问出错地址，进入HardFault值为0xe0fc，

表示程序对0xe0fc地址进行了操作，这是不被内核允许的
6、查找程序为何会对0xe0fc进行操作。仔细查看
“ S32_NVIC->ISER[(uint32_t)(irqNumber) >> 5U] = (uint32_t)(1UL << ((uint32_t)(irqNumber) & (uint32_t)0x1FU));”
反汇编并将以上语句拆分两部分进行debug测试如下：
uint32_t abcde = (uint32_t)(1UL << ((uint32_t)(irqNumber) & (uint32_t)0x1FU));
uint32_t abcdef = (uint32_t)(irqNumber) >> 5U;
S32_NVIC->ISER[abcdef] = abcde;
找到问题出现在" S32_NVIC->ISER[abcdef] = abcde;"语句，此语句的对应的反汇编如下：
00002a8e: ldr r2, [pc, #8] ; (0x2a98 )
00002a90: str.w r3, [r2, r0, lsl #2]
在这里插入图片描述
7、调试时候问题出现在 “str 指令将寄存器 r3 中的值存储到地址为 [r2 + (r0 << 2)] 的内存中。”
8、了解对应出错的C语言语句执行的是：abcdef等于irqNumber(-13)右移5位，并将abcde存放在S32_NVIC->ISER[abcdef] 中(此时abcdef = 7FFFFFF)
9、可是反汇编却多执行了“str.w r3, [r2, r0, lsl #2]”这一步，这表明的是存放到 S32_NVIC->ISER[0]这个内存地址的偏移量需要在irqNumber(-13)右移5位基础上
再左移2位(乘于4),(此时abcdef = 1FFFFFFC,也就是需要放入S32_NVIC->ISER内数据的偏移量)，
在这里插入图片描述
若加上S32_NVIC->ISER基地址：0xE000E100 + 0x1FFFFFFC = 0x10000E0FC,已溢出，导致产生相关的总线错误
10、为何要乘4 猜测是S32_NVIC->ISER[0]是8位数据八位数据存放，如果是32位数据需要乘4.