芯片测试——枚举与分治

问题描述

有n片芯片，已知好芯片比坏芯片至少多1片。现在需要通过测试从中找出1片好芯片，测试方法如下：将2片芯片放到测试台上，2片芯片互相测试并报告测试结果（即好或者坏）；其中，好芯片的报告是正确的，而坏芯片的报告是不可靠的。请在上述背景下解决以下问题：

问题1：若用枚举法从中找出1片好芯片，在最坏的情况下，需要多少测试次数？请给出详细的分析过程；

问题2：相比于枚举法，为保证使用更少的测试次数，请设计一个合适的算法解决上述问题。

算法设计思路

问题一：

若n=1，因为好芯片比坏芯片至少多1，所以该芯片就是好的，此时测试次数为0；

若n=2，同理，只可能是两个芯片都是好的，测试次数为0；

若n>2时：

①n为偶数时至少有n/2+1个好芯片，按照枚举法，每次拿出一个芯片与其他芯片做测试，若该芯片是好芯片，那么至少有n/2个芯片会报告它是好芯片，若该芯片是坏芯片，那么至少有n/2+1个芯片会报告它是坏芯片。

因此，若该芯片是好芯片，那么至少有一半的芯片会报告它是好芯片，否则，它就是坏芯片。

②n为奇数时至少有（n+1）/2个好芯片，按照枚举法，每次拿出一个芯片与其他芯片做测试，若该芯片是好芯片，那么至少有（n-1）/2个芯片会报告它是好芯片，若该芯片是坏芯片，那么至少有（n+1）/2个芯片会报告它是坏芯片。

因此，若该芯片是好芯片，那么至少（n-1）/2的芯片会报告它是好芯片，否则，它就是坏芯片。

问题二：

首先，对于该问题的结果进行分析：

①由问题一可知，当n<=2时，每一个芯片都是好芯片，没必要进行测试，因此测试次数为0

②当n>2时，由题意可知，一开始的好芯片是比坏芯片多的，而每次的相互判断情况有以上四种。

如果n是偶数，将n个芯片两个为一组进行判断，当出现第2、3、4种情况的时候，说明芯片A和B至少有一个是坏芯片，或者都是坏芯片。此时若是将这两个芯片移除出，则剩余的芯片中，好芯片数量还是多于坏芯片的，这样就将问题规模缩小了，若当前状态下，没出现情况2,3,4，即只出现情况1，说明每一对芯片同为好或者同为坏，那么每一对芯片就随意拿掉一个，剩下的好芯片数量还是多于坏芯片数量。

如果n是奇数，那么先对单独一个芯片进行枚举法判断，若判断得出该芯片是好芯片，那么就不用计算下去，若判断得出该芯片是坏芯片，则将它拿掉，再对剩下的芯片进行如上判断。

综上所述，对于n是奇数时，可以对最后一个按照问题一的算法判断，若是好芯片，算法结束，若是坏芯片，则弃掉，剩余芯片个数转化为偶数个；对于n是偶数，将芯片两两一组，有n/2组，若测试结果为情况1，则随意丢弃一块芯片，若测试结果为情况2、3、4，则两块都丢弃，若再次出现奇数块的芯片，则再取出一块做问题一的算法判断，直到剩下两块及以下，则都为好芯片，任取一块即可。

算法实现的伪码

问题一：

函数：seek(all, n)

输入：包含所有芯片的集合all,芯片个数n

输出：确定是好芯片的芯片下标

S1： for i ← 0 to n/2//逐个遍历第0个到第n/2个芯片，直到找到一个好芯片

S2： isTrue ← 0//记录其他芯片对此芯片判断为好的个数

S3： for j ← 0 to n-1

S4： if j!=i//除了第i个的其他芯片

S5： then pd ← judge(all[i], all[j])//返回第j个芯片对第i个芯片的好坏判断(true/false)

S6： if pd == true

S7： then isTrue ← isTrue+1//判断为true，记录个数+1

S8： if isTrue > n/2//判断结果为好的个数超过一半

S9： then return i//返回确定为好芯片的下标i

S10： if isTrue == n/2 and n%2 != 0//奇数个的特殊情况判断

S11： then return i//返回确定为好芯片的下标i

问题二：

函数：does(S, n)

输入：芯片集合S和个数n

输出：找到的好芯片的下标

S1： if n <= 2

S2： then return 0//返回第一块芯片

S3： if n%2 != 0//奇数个

S4： then if test(S, n) == true//判断最后一块芯片是不是好芯片

S5： then return n//n为好芯片，返回

S6： else n ← n-1//个数-1，即舍弃最后一个芯片

S7： nums ← 0//记录一轮判断后的剩余个数

S8： for i from 0 to n-1 step 2//两个两个判断（此时n肯定是偶数）

S9： if pd(S[i], S[i+1]) == true//两芯片结果若是情况1则为true，否则为false

S10： then nums ← nums+1//个数+1

S11： newS[nums-1] ← S[i]//结果为true，任取一个芯片存入新的集合

S12： return does(newS, nums)//将问题规模变为小于等于原来的1/2

算法实现的源码

问题一：

import java.util.Scanner;

public class Main {
   

      public static void main(String[] args) {
   

             Scanner in = new Scanner(System.in);

             //好芯片为true，坏芯片为false

             boolean[] all= {
   false, false, false, false, false,