芯片测试（穷举）

最新推荐文章于 2024-03-11 22:42:29 发布

话白君

最新推荐文章于 2024-03-11 22:42:29 发布

阅读量653

点赞数

文章标签：算法

本文链接：https://blog.csdn.net/weixin_43700565/article/details/105106661

版权

芯片测试

测试方法： 将2片芯片（A和B）置于测试台上，互相进行测试，测试报告是“好”或“坏”，只取其一。
假设： 好芯片的报告一定是正确的，坏芯片的报告是不确定的（可能会出错）。
要求： 设计一种测试方法，通过测试从n 片芯片中挑出 1 片好芯片。
在这里插入图片描述

#include<iostream>
#include<time.h>
using namespace std;
//---------------------
struct Node{
       //因为计数值在递归里一直传不了，所以直接建立一个结点来记录算了
int time;
int len;
int L;
Node* next;
};
//---------------------------
Node* CreateList()
{
   
	Node *h;
	//
	h = new  Node;
	h->next=NULL;
	//
	return h;
}

//-------------------
int UseRand(int A[],int i,int j)
{
   
	int x1,y1;
	x1=y1=1;
	//-----------------------------------------rand()%2  up
	if (A[i]==1)
	{
   
		x1=(A[j]&&1);
	}
	else
		x1=rand()%2;
//-----------------------
	if (A[j]==1)
	{
   
		y1=(A[i]&&1);
	}
	else
		y1=rand()%2;
	//---------------------------rand()%2 down
	if((x1==1)&&(y1==1))
		return 1;
	else return 0;
}

int CompareItAll(int A[],Node* time)
{
   
	time->L++;
	int n=0;
	int m=