神经网络测试综述《Detecting Defects in Deep Learning Systems: a Survey》

        时间:2022年6月        会议:APIW

        3.2.1 DL模型

        近年来,复杂系统中通用DL模型或DL模块的测试有两种主要的不同框架。表1提供了一个概述。其中一个框架是DeepXplore[33]。DeepXplore提出了神经元覆盖率,这是神经网络的第一个测试指标。它同时测试多个DNN,通过联合梯度下降的方式提高神经元覆盖度,同时使每个DNN的预测结果尽可能不同,以找到可能导致错误的测试场景。基于DeepXplore,学者们进一步开发了新的白盒测试框架。DLFuzz[15]试图最大化神经元的覆盖率和预测原始输入与变量输入之间的差异,因此不再需要交叉验证dnn;DeepGauage[32]提出了k-多区域神经元覆盖和Top-k神经元覆盖等新的覆盖标准,并描述了4种生成对抗样本的方法;SADL[25]提出了出人意料的充分性作为一个新的标准,宣称测试用例应该“充分但不太出人意料”;Fabrice Harel et al.[16]指出神经元覆盖率不是一个合理的测试度量,自然度和输出公正性相结合更可靠。

        另一种是由DeepTest[50]表示的,这是一个灰盒测试框架。这类测试工具通过对视觉图像实现各种类型的转换,直接生成对抗性样本,进而诱发dnn中的错误行为。DeepTest通过模拟和改变真实的驾驶条件(如雨、雾和照明)来生成测试场景,同时使用神经元覆盖作为指导测试用例生成的标准。DeepRoad[61]将生成对抗网络(generative adversarial networks, GAN)应用于真实的天气场景中,生成不同天气条件下的驾驶场景,从而生成测试场景。它使用变形测试技术合成图像,以检查这些系统的一致性。DeepHunter[55]通过图像变化生成测试用例,并使用多个测试指标来指导和评估测试结果。Jaganmohan Chandrasekaran等人[9]提出了一种新的图像变换方法,结合基本的图像变换生成t-way组合测试集,再由t-way组合测试集生成测试样本。 

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MSFT-YOLO是基于Transformer模型改进的Yolov5用于检测SE(电子元器件)缺陷的方法。 Transformer是一种先进的神经网络架构,主要用于自然语言处理任务,但在计算机视觉领域也得到了广泛应用。Yolov5则是一种经典的目标检测算法,通过将图像分成多个网格单元并预测每个单元中的物体,实现了实时目标检测。 在MSFT-YOLO中,我们将Transformer应用于Yolov5的特征提取阶段,以提高对SE缺陷的检测能力。传统的Yolov5使用的是卷积神经网络作为特征提取器,但这种方法在处理复杂的缺陷图像时可能会存在一定的局限性。 通过引入Transformer,我们可以将图像中的每个像素看作是一组序列数据,并利用Transformer的自注意力机制来捕捉不同位置之间的依赖关系。这种方式可以提取出更具语义信息的特征表示,从而有效地检测SE缺陷。 在训练过程中,我们使用大量带有标注的SE缺陷图像来优化网络参数。通过进行端到端的训练,我们可以不断调整网络权重以提高检测精度。此外,我们还可以使用数据增强技术来扩增数据集,从而提升模型的鲁棒性和泛化能力。 实验结果表明,MSFT-YOLO相较于传统的Yolov5在SE缺陷检测方面取得了更好的性能。它能够识别出更多的缺陷类型,同时还具备较低的误检率。这使得它在工业制造等领域中有着广泛的应用前景,能够提高产品质量和生产效率。
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