001芯片测试

问题描述

       有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

代码

#思路：因为好芯片比坏芯片多，所以每一个芯片与其它芯片比较时，
#只要测试的结果大于或等于n/2就能证明这是好芯片，然后把芯片所在位置输出来即可。
#include<iostream>
#include<stdio.h>

using namespace std;

int a[100][100];

int main()
{
	int n;
	cin>>n;
	for(int i = 0;i<n;i++)
	{
		for(int j = 0;j<n;j++)
		{
			cin>>a[i][j];
		}
	} 
	int b[100];
	for(int i=0;i<n;i++)
	{
		int sum = 0;
		for(int j = 0;j<n;j++)
		{
			if(a[j][i]==1)
                sum++; 
		}
		b[i] = sum;
	}
	for(int i = 0;i<n;i++)
	{
		
		if(b[i]-1>=n/2)
            cout<<i+1<<" ";
	}
	cout<<endl;
	return 0;
}